面向密碼芯片設(shè)計(jì)階段的仿真?zhèn)刃诺腊踩苑治龇椒ㄑ芯?
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大小：4798 K
標(biāo)簽： 密碼芯片 仿真功耗 泄漏檢測(cè)
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文檔介紹：密碼芯片是密碼算法實(shí)現(xiàn)的重要載體,，在信息系統(tǒng)中承擔(dān)了加解密、簽名,、認(rèn)證等功能,，側(cè)信道分析是檢測(cè)密碼芯片安全性的重要手段，當(dāng)前行業(yè)內(nèi)通常采用專用設(shè)備進(jìn)行側(cè)信道分析,，該方法存在發(fā)現(xiàn)時(shí)間晚,、修復(fù)成本高、硬件設(shè)備昂貴等問(wèn)題,。研究面向密碼芯片設(shè)計(jì)階段的能量采集與側(cè)信道分析方法,，采用EDA工具在設(shè)計(jì)階段對(duì)密碼芯片的RTL代碼進(jìn)行功能仿真，通過(guò)分析仿真生成的波形記錄文件,，實(shí)現(xiàn)對(duì)能量跡的模擬和采集,。采用Welch t檢驗(yàn)、KL散度和相關(guān)能量分析方法,，實(shí)現(xiàn)了對(duì)芯片RTL代碼的泄漏檢測(cè),、泄漏定位和側(cè)信道攻擊。通過(guò)對(duì)AES-128 RTL設(shè)計(jì)的仿真實(shí)驗(yàn),，證明了該方法能夠正確地反映能量泄漏情況,，且能夠在不借助專用硬件設(shè)備的條件下實(shí)現(xiàn)對(duì)密碼芯片早期設(shè)計(jì)階段的側(cè)信道泄漏安全風(fēng)險(xiǎn)檢測(cè)。
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