NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System
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上傳者：wwei
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標(biāo)簽： NI HIL測(cè)試 硬件在環(huán)測(cè)試
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文檔介紹：NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在環(huán)測(cè)試（Hardware in the Loop, HIL）,，是指將真的控制器連接仿真的被控對(duì)象（用實(shí)時(shí)仿真硬件來(lái)模擬）,，以一種高效、低成本的方式對(duì)控制器進(jìn)行全面測(cè)試,。 乘著智能汽車(chē)的風(fēng)口,，HIL（硬件在環(huán)測(cè)試）被業(yè)界所熟知,。更早以前,，HIL測(cè)試主要用于航空航天行業(yè),，隨著醫(yī)療、消費(fèi)電子行業(yè)越來(lái)越多使用嵌入式軟件,，HIL測(cè)試逐漸在這些行業(yè)普及開(kāi)來(lái),。
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