基于FPGA的SiP原型驗證平臺設(shè)計
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>793 K
標(biāo)簽： 原型驗證 可重構(gòu)算法 裸機(jī)IP
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文檔介紹：隨著嵌入式系統(tǒng)小型化和模擬數(shù)字/數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(ADC/DAC)性能需求的日益增長,，如何在減小系統(tǒng)體積和功耗的前提下,，提高ADC/DAC信號傳輸?shù)目煽啃?，增加功能可配置性和信號處理可重?gòu)性，成為一大難題,。為此,，設(shè)計了一款基于FPGA的系統(tǒng)級封裝(SiP)原型驗證平臺，該SiP基于ADC+SoC+DAC架構(gòu),，片上系統(tǒng)(SoC)內(nèi)部以PowerPC470為處理器,，集成了多種通用外設(shè)接口和可重構(gòu)算法單元。在搭建的FPGA平臺上進(jìn)行裸機(jī)IP和基于可重構(gòu)IP的ADC/DAC設(shè)計功能的驗證。通過軟硬件協(xié)同驗證實驗,，證明了該類SiP架構(gòu)能夠有效降低走線延時和噪聲干擾,，提高信號傳輸?shù)目煽啃裕S富的外設(shè)接口提高了ADC/DAC的可配置性,，集成的可重構(gòu)算法模塊增加了ADC/DAC信號處理可重構(gòu)性,，為后續(xù)集成更多器件該類型SiP的設(shè)計和驗證奠定了一定的技術(shù)基礎(chǔ)。
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