基于雙ATmega128的安檢力學(xué)試驗(yàn)機(jī)設(shè)計(jì)
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：serena
標(biāo)簽： Atmega128
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文檔介紹：針對(duì)當(dāng)前安檢力學(xué)試驗(yàn)機(jī)所能完成的試驗(yàn)種類(lèi)單一、自動(dòng)化程度低等問(wèn)題,，提出一種以ATmega128單片機(jī)為核心控制器的安檢力學(xué)試驗(yàn)機(jī)的設(shè)計(jì),。詳細(xì)闡述了該安檢力學(xué)試驗(yàn)機(jī)各個(gè)組成部分的設(shè)計(jì)原理和方案,，并且給出了各部分的軟件設(shè)計(jì)思想和操作流程。
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