8月19日消息,，在通常的分布式存儲中,，當(dāng)系統(tǒng)檢測到硬盤故障時,，系統(tǒng)會采用EC（Erasure Coding）糾刪碼等冗余校驗手段,，利用其余節(jié)點上的正常硬盤,、正常數(shù)據(jù),，在后臺跨節(jié)點地將整塊硬盤的故障數(shù)據(jù)重構(gòu)出來,。

然而,，隨著SSD容量逐步增大，大盤需要重構(gòu)的數(shù)據(jù)量翻了4~8倍,、耗費時長也等比例上升,。

在這個漫長的重構(gòu)周期里，不僅擠占25%存儲帶寬,、影響業(yè)務(wù)性能,，且更致命的是，系統(tǒng)將處于可靠性降級狀態(tài),，數(shù)據(jù)將會面臨隨時丟失,。

今天，華為介紹了全閃分布式存儲,，對SSD的故障域?qū)嵤┚植扛綦x,，盡可能避免原先的大范圍的整盤重構(gòu)。

針對盤內(nèi)DDR的失效,，華為創(chuàng)新地采用TRR（Tiny Region Reconstruction,，最小范圍重構(gòu)）算法，通過盤控深度配合,，精準(zhǔn)識別并上報失效區(qū)域所映射的邏輯地址,，然后通知存儲系統(tǒng)，對受影響的局部數(shù)據(jù)進行屏蔽,。

這個過程,，就像在硬盤上“精密鏤刻”一樣，然后在新的位置精準(zhǔn)重構(gòu)出這一小部分?jǐn)?shù)據(jù),。這,，就避免了過去動輒整盤重構(gòu)，讓其余正常數(shù)據(jù)“免遭牽連”,，減少了數(shù)百倍的重構(gòu)數(shù)據(jù)量,，整個過程幾分鐘就能搞定,。

針對NAND Flash的失效,，華為也采用自研的“盤內(nèi)RAID算法”,，對盤上所有數(shù)據(jù)以Die為單位，建立RAID組冗余校驗,。我們將故障范圍精準(zhǔn)縮小到Die級,，利用其余正常的Die、通過盤內(nèi)計算引擎恢復(fù)出正確的數(shù)據(jù),。

這項技術(shù)的厲害之處在于,，這個過程可以不斷重復(fù)，允許Die一個接一個地失效,，持續(xù)縮列,、甚至縮容而不丟失任何數(shù)據(jù)。這個操作完全發(fā)生在SSD盤內(nèi),，上層存儲系統(tǒng)那個“大佬”根本無需插手,，完全不知道底下這么熱鬧。

假如遇上多個Die同時失效,、或者整個顆粒失效的極端情況,，那SSD單盤就兜不住了，但系統(tǒng)自然也有備而來,。存儲系統(tǒng)會立刻啟動TRR算法,，進行局部數(shù)據(jù)的“鏤刻”和“填坑”，做到精準(zhǔn)屏蔽,、并進行計劃性預(yù)拷貝重構(gòu),。