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長江存儲QLC閃存X3-6070擦寫壽命已達四千次

2024-03-29
來源:IT之家

3 月 28 日消息,,據(jù)臺媒 DIGITIMES 報道,,長江存儲在中國閃存市場峰會 CFMS 2024 上表示采用第三代 Xtacking 技術的 X3-6070 QLC 閃存已實現(xiàn) 4000 次 P / E 的擦寫壽命。

注:不同于質(zhì)保壽命,,消費級原廠 TLC 固態(tài)硬盤在測試中普遍至少擁有 3000 次 P / E 級別的擦寫壽命,。

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長江存儲 CTO 霍宗亮表示,,目前 NAND 閃存行業(yè)已度過了最艱難的 2023 年,今年將進入上升期,,預計 2023~2027 年的閃存需求總量復合增長率可達 21%,,單臺設備平均容量的復合增長率為 20%。

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在這個上升周期中,,存儲市場面臨的三大新挑戰(zhàn)是每 Gb 成本快速降低,、讀寫性能加速提升和滿足多樣化需求,客戶期待的是以同樣的價格獲得更高密度的存儲,。

而在密度提升方面,,3D NAND 的堆疊層數(shù)提升成為業(yè)界新問題,因此有必要推動 QLC NAND 的應用,。根據(jù)市場預測,,到 2027 年 QLC 占比有望超過 40%,大幅高于去年的 13%,。

長江存儲表示,,其采用第三代 Xtacking 技術的 X3-6070 QLC 閃存相較上代產(chǎn)品 IO 速度提升 50%、存儲密度提高 70%,、擦寫壽命達 4000 次 P / E,。

這意味著長江存儲的 QLC 技術已開發(fā)成熟,可向企業(yè)級存儲,、移動端等領域擴展,。憶恒創(chuàng)源就在此次峰會上展示了基于長存 QLC 閃存的 PBlaze7 7340 系列數(shù)據(jù)中心級固態(tài)硬盤。

在技術細節(jié)方面,,Xtacking 結(jié)構將 CMOS 電路同閃存陣列分離的設計對操作算法帶來了更大靈活性,,從而提升了 QLC 的可靠性。此外第三代 Xtacking 技術可實現(xiàn)更靈活的電壓調(diào)制,,讀取窗口裕度得到了提升,。

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此外,長江存儲還在現(xiàn)場展示了 PC41Q 消費級 QLC 固態(tài)硬盤,。PC41Q 順序讀寫帶寬達 5500MB/s,,長江存儲宣稱該款固態(tài)硬盤的數(shù)據(jù)保持能力和可靠性媲美 TLC 固態(tài)硬盤,實現(xiàn)了 30℃ 下 1 年的數(shù)據(jù)保持和 200 萬小時的 MTBF 時間。

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