中國(guó)北京，2023年7月6日—— 泰克科技以“啟智未來(lái),、測(cè)試為先”的TIF2023年度大會(huì)日前圓滿落幕,，本次大會(huì)探討了未來(lái)科技發(fā)展的趨勢(shì)和前沿技術(shù)，并展示了最新的技術(shù)和測(cè)試測(cè)量解決方案,，分享了公司未來(lái)的發(fā)展戰(zhàn)略和愿景,。

　　新一輪科技革命和產(chǎn)業(yè)變革蓬勃發(fā)展,，泰克從未停止創(chuàng)新步伐。顛覆性的科技突破也許百年才得一遇,，持續(xù)性的迭代創(chuàng)新則以日進(jìn)一寸的累積改變著日常生活,。從先進(jìn)材料、研發(fā)生產(chǎn),、智造到應(yīng)用的全產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)中,，處處可見泰克的身影。泰克在三代半導(dǎo)體領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┴S富的晶圓參數(shù)測(cè)試,、芯片參數(shù)測(cè)試,、可靠性測(cè)試等各個(gè)領(lǐng)域的解決方案，并積極與本土廠商合作,，為國(guó)內(nèi)客戶提供本土化技術(shù)解決方案。同時(shí),，泰克聚焦智能座艙,、自動(dòng)駕駛和汽車三電領(lǐng)域，為客戶提供安全,、可靠和高效的智慧出行測(cè)試解決方案等等,。

　　圍繞半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試、汽車電動(dòng)化和智能化測(cè)試,，聚焦6大關(guān)鍵詞,，囊括了泰克近兩年的領(lǐng)先測(cè)試解決方案。

　　碳未來(lái),，汽車電動(dòng)化和智能化趨勢(shì)加速

　　碳未來(lái)——在國(guó)家“雙碳”戰(zhàn)略下,，汽車電動(dòng)化和智能化趨勢(shì)加速，截至2022年新能源汽車滲透率已經(jīng)超過(guò)25%,。泰克致力于成為智能汽車測(cè)試的領(lǐng)跑者,，走在行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)前沿，聚焦智能座艙,、自動(dòng)駕駛和汽車三電領(lǐng)域,，持續(xù)投入和專注于智能汽車測(cè)試的關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)，為客戶提供安全,、可靠和高效的智慧出行測(cè)試解決方案,。

　　關(guān)鍵詞1：芯能量

　　——800V電驅(qū)系統(tǒng)整車實(shí)現(xiàn)難點(diǎn)及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)

　　在國(guó)家“雙碳”戰(zhàn)略下，油電切換提速,，截至2022年新能源汽車滲透率已經(jīng)超過(guò)25%,，但里程焦慮和充電速度慢的問(wèn)題依然困擾著行業(yè)發(fā)展，基于SiC為代表的三代半導(dǎo)體功率器件而開發(fā)的800V超充架構(gòu)給行業(yè)指明了新的發(fā)展方向,。討論熱點(diǎn)包括：

• 800V電驅(qū)系統(tǒng)的整車實(shí)現(xiàn)及需求特點(diǎn)

• 未來(lái)800V系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)

• 800V架構(gòu)下所面臨的相關(guān)測(cè)試挑戰(zhàn)（EMC測(cè)試,、短路測(cè)試及串?dāng)_等）

　　關(guān)鍵詞2：芯挑戰(zhàn)

　　——800V架構(gòu)下SiC測(cè)試挑戰(zhàn)

　　新能源汽車800V新架構(gòu)發(fā)展趨勢(shì)下,，SiC已經(jīng)成為必需選擇的新型功率器件，泰克帶您從測(cè)試的角度來(lái)看寬禁帶技術(shù)帶來(lái)的諸多挑戰(zhàn),，例如：

• 如何篩選不同廠家的SiC器件及必要性

• 如何解決目前寬禁帶器件應(yīng)用測(cè)試和驅(qū)動(dòng)測(cè)試的難題

• 如何能充分發(fā)揮SiC器件的性能等

　　泰克針對(duì)性的測(cè)試解決方案覆蓋了從半導(dǎo)體材料,、生產(chǎn)、可靠性,、到電源設(shè)計(jì)應(yīng)用的全流程,，幫助客戶用好寬禁帶技術(shù)，推動(dòng)社會(huì)進(jìn)步,。

　　關(guān)鍵詞3：芯速度

　　——智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應(yīng)用測(cè)試

　　智能網(wǎng)聯(lián)汽車的核心是新一代電子電氣架構(gòu),，在新的架構(gòu)下高速總線的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，如何準(zhǔn)確的測(cè)試和評(píng)估這些高速總線也變得愈發(fā)有挑戰(zhàn),。在此章節(jié),，您不僅可以了解到泰克針對(duì)以下車載高速總線應(yīng)用的對(duì)應(yīng)解決方案，還可以了解到泰克在實(shí)際場(chǎng)景中的一些應(yīng)用案例分享：

• 車載以太網(wǎng)1000BASE-T1測(cè)試方案

• MIPI D-PHY及C-PHY傳感接口測(cè)試方案

• PCIe Gen4/5外設(shè)接口及車內(nèi)SERDES測(cè)試方案等

　　此外,，泰克還可提供各類高速接口的測(cè)試建議和白皮書以及豐富的調(diào)試工具,，幫助工程師加速了解掌握各類高速接口測(cè)試、應(yīng)對(duì)復(fù)雜車載環(huán)境,、建立自主測(cè)試和驗(yàn)證能力,，助力新一代電子電氣平臺(tái)在智能網(wǎng)聯(lián)汽車的不斷升級(jí)。

　　第三代半導(dǎo)體,，解決客戶功率器件表征的疑難問(wèn)題

　　關(guān)鍵詞4：晶圓級(jí)測(cè)試

　　為晶圓級(jí)測(cè)試領(lǐng)域提供整體性解決方案,，降低客戶成本以提高競(jìng)爭(zhēng)力。PT-930 可用于12寸,、8寸晶圓的全自動(dòng)探針臺(tái),，來(lái)自矽電-泰克先進(jìn)半導(dǎo)體晶圓測(cè)試聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室。

• 支持最高3000V/100A的高壓及大電流測(cè)試

• 探針系統(tǒng)測(cè)試漏電流<100pA@1000V

• 支持高溫測(cè)試,，溫度可達(dá)200°C

• 靜態(tài)測(cè)試最高電壓3000V,，動(dòng)態(tài)測(cè)試最高電壓2000V

• 支持鐵環(huán)，藍(lán)膜,，華夫盒,，Tap Reel等進(jìn)出料方式

　　關(guān)鍵詞5：動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

　　DPT1000A 半導(dǎo)體功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)專門用于針對(duì)三代半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測(cè)試，旨在解決客戶在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見的疑難問(wèn)題,。

• 定制化系統(tǒng)設(shè)計(jì) , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動(dòng)電

• 自動(dòng)化測(cè)試軟件,，可以自動(dòng)配置參數(shù)，測(cè)試和生成數(shù)據(jù)報(bào)告

• 高帶寬/高分辨率測(cè)試設(shè)備 , 在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件

• 覆蓋高/中/低壓,、pmos,、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測(cè)試

• 可以提供單脈沖、雙脈沖,、反向恢復(fù),、Qg等測(cè)試功能

　　關(guān)鍵詞6：動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試

　　HTXB-1000D 功率器件動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)，用于批量SiC/GaN 器件老化測(cè)試,，研究其典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性,，幫助客戶了解器件可靠性相關(guān)信息并表征老化特性。

• 可并行進(jìn)行最多80片SiC/GaN器件的動(dòng)態(tài)老化測(cè)試

• 可替換的多種老化夾具,，可以適配不同封裝器件的測(cè)試要求

• 靜態(tài)電壓最高1200V,，動(dòng)態(tài)測(cè)試電壓最高1000V

• 可以進(jìn)行1000 小時(shí)以上的連續(xù)測(cè)試

•  實(shí)時(shí)保存測(cè)試結(jié)果，并自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告

　　目前,，八個(gè)地區(qū)的活動(dòng)注冊(cè)均已開放,。2023 TIF 課程屆時(shí)將開啟遠(yuǎn)程在線直播，注冊(cè)即可免費(fèi)參會(huì),?；顒?dòng)視頻及相關(guān)資源將一直開放至本日歷年結(jié)束，為注冊(cè)參會(huì)人員提供一個(gè)可以持續(xù)訪問(wèn)的資源庫(kù),，促進(jìn)其在電子行業(yè)的職業(yè)發(fā)展,。

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