《電子技術(shù)應(yīng)用》
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采用矩陣遞歸的最小測試用例集生成算法
2020年電子技術(shù)應(yīng)用第4期
黃孝倫,王 東
重慶市衛(wèi)生信息中心,,重慶401120
摘要: 符合MC/DC準(zhǔn)則的最小測試用例集算法具有重要的實(shí)用價值。首先將布爾表達(dá)式轉(zhuǎn)換為語法二叉樹,然后采用矩陣組合邏輯運(yùn)算方法逐層遞歸,,從而獲得完備的MC/DC最小測試用例集。經(jīng)驗證,,矩陣組合邏輯運(yùn)算方法是合理的,、正確的。該方法對于非平凡布爾表達(dá)式可快速獲取完備的MC/DC最小測試用例集,,同時也可以處理帶耦合條件的復(fù)雜布爾表達(dá)式,。
中圖分類號: TN06;TP301.6
文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.191029
中文引用格式: 黃孝倫,,王東. 采用矩陣遞歸的最小測試用例集生成算法[J].電子技術(shù)應(yīng)用,,2020,46(4):71-74.
英文引用格式: Huang Xiaolun,,Wang Dong. Algorithm of minimum test case set generation using matrix recursion[J]. Application of Electronic Technique,,2020,46(4):71-74.
Algorithm of minimum test case set generation using matrix recursion
Huang Xiaolun,,Wang Dong
Chongqing Health Information Center,Chongqing 401120,,China
Abstract: The algorithm of minimum test case set conforming to MC/DC criterion has important practical value.Firstly,the Boolean expression is transformed into a syntax binary tree,and then the matrix combinational logic operation is used to recurse layer by layer to obtain a complete set of MC/DC minimum test cases.It is proved that the method of matrix combinational logic operation is reasonable and correct.The method can quickly obtain complete MC/DC minimum test case set for nontrivial Boolean expressions,and can also deal with complex Boolean expressions with coupling conditions.
Key words : MC/DC;test cases,;coupling conditions,;recursion;algorithms

0 引言

    更改條件/判定覆蓋(MC/DC)準(zhǔn)則是一種軟件結(jié)構(gòu)覆蓋性測試準(zhǔn)則,,非常適合大型的軟件測試領(lǐng)域,,如國防、航空航天領(lǐng)域[1-2],。MC/DC與語句覆蓋,、條件覆蓋、判定覆蓋等比較,,能大幅減少測試用例數(shù),,如測試系統(tǒng)中有10個判定條件時,條件組合覆蓋需要1 024個測試用例,,而MC/DC只需要11~20個測試用例[3-4],。在國內(nèi)MC/DC最小測試用例集生成算法的相關(guān)研究中,比較典型的是最小真值表法[5]和快速生成法[6],,但這兩種算法只適合處理非耦合條件的布爾表達(dá)式,。也有學(xué)者將MC/DC準(zhǔn)則應(yīng)用于帶弱耦合條件和強(qiáng)耦合條件的布爾表達(dá)式中[7]。本文結(jié)合矩陣方式,,從布爾表達(dá)式的語法二叉樹的葉子節(jié)點(diǎn)依次遞歸至根節(jié)點(diǎn),,直接生成完備的最小化測試用例集。

1 算法相關(guān)描述

    布爾表達(dá)式相關(guān)概念:條件表示不含有布爾操作符號的布爾表達(dá)式,記為Pi(1≤i≤n),。判定表示由條件Pi和若干布爾操作符號所組成的一個布爾表達(dá)式,。

    MC/DC覆蓋準(zhǔn)則[8]:(1)程序中,每個入口點(diǎn)和出口點(diǎn)至少被調(diào)用1次,;(2)程序中判定的每個條件的所有取值至少出現(xiàn)1次,,且能獨(dú)立影響該判定的輸出;(3)每一個判定的所有可能的輸出結(jié)果至少產(chǎn)生1次,。

    Chilenski原則[9]:對于一個具有n個條件的判定,,滿足MC/DC準(zhǔn)則的測試用例至少有n+1組。

    MC/DC對[10]:一個MC/DC對是一對真值向量,,該向量中一個條件值變化時可使得判定有不同的結(jié)果,。

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    矩陣組合邏輯運(yùn)算規(guī)則:將矩陣的條件部分進(jìn)行兩兩組合,同時將結(jié)果部分按邏輯運(yùn)算符進(jìn)行邏輯運(yùn)算,,如式(1)所示:

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    語法二叉樹:將一個判定從左到右依次轉(zhuǎn)化為對應(yīng)的語法二叉樹,,其中條件Pi采用葉子節(jié)點(diǎn)表示,and,、or等邏輯運(yùn)算符采用非葉子節(jié)點(diǎn)表示,。以(P1 and P2)and(P3 or P4)為例,其對應(yīng)的語法二叉樹如圖1所示,。

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    語法二叉樹遞歸規(guī)則:從葉子節(jié)點(diǎn)開始往根節(jié)點(diǎn)逐層遞歸,。左、右子樹為葉子節(jié)點(diǎn)時,,按“語法二叉樹與矩陣對應(yīng)關(guān)系”獲得對應(yīng)矩陣,。若某一子樹的左子樹或右子樹為非葉子節(jié)點(diǎn)時,利用該子樹的左,、右矩陣,,按“矩陣組合邏輯運(yùn)算規(guī)則”進(jìn)行運(yùn)算:若為and運(yùn)算,先將左矩陣中每一行與右矩陣中結(jié)果為1的行進(jìn)行運(yùn)算,,然后將右矩陣中每一行與左矩陣中結(jié)果為1的行進(jìn)行運(yùn)算,,最后合并運(yùn)算結(jié)果;如為or運(yùn)算時,,選取相應(yīng)矩陣中結(jié)果為0的行進(jìn)行運(yùn)算,。運(yùn)算結(jié)果即為該子樹對應(yīng)的判定的最小測試用例集。遞歸到根節(jié)點(diǎn)時,,即獲得整個判定的最小測試用例集,。

    命題  按語法二叉樹遞歸規(guī)則可得到MC/DC最小測試用例集。

    證明  以n表示語法二叉樹的高度,,當(dāng)n=2時,左,、右子樹為葉子節(jié)點(diǎn),,可直接獲得判定的矩陣,,即最小測試用例集,結(jié)論成立,。當(dāng)n>2時,,由于該子樹的左、右矩陣符合Chilenski原則,,因此左,、右矩陣的行集合其實(shí)就是MC/DC對集合。左,、右矩陣按“矩陣組合邏輯運(yùn)算規(guī)則”運(yùn)算時,,以and運(yùn)算為例(or運(yùn)算同理),左矩陣中MC/DC對分別與右矩陣中結(jié)果為1的行進(jìn)行運(yùn)算(此處只證明合理性,,因此右矩陣中有多個結(jié)果為1的行時,,只選取其中一行運(yùn)算即可。實(shí)際操作時,,結(jié)果為1的行均進(jìn)行運(yùn)算,,這樣可獲得完備的最小測試用例集),實(shí)際上只是在該MC/DC對中增加了右矩陣中的同一組條件,,MC/DC對數(shù)量不變,。同樣原理,將右矩陣中MC/DC對與左矩陣中結(jié)果為1的行進(jìn)行運(yùn)算后,,該MC/DC對中增加了左矩陣中的同一組條件,,MC/DC對數(shù)量不變。然后合并運(yùn)算結(jié)果,,此時針對左,、右子樹中條件的MC/DC對構(gòu)造完畢,即該子樹的最小測試用例集構(gòu)造完畢,。遞歸至根節(jié)點(diǎn)時,,就可獲得針對全部條件的MC/DC對,即該語法二叉樹的MC/DC最小測試用例集,,證畢,。

2 算法設(shè)計與驗證

2.1 算法步驟

    按照上述規(guī)則及定義,MC/CD最小測試用例集的生成算法步驟如下:

    (1)將判定轉(zhuǎn)換為語法二叉樹,;

    (2)從葉子節(jié)點(diǎn)開始,,按“語法二叉樹遞歸規(guī)則”向根節(jié)點(diǎn)逐層遞歸,遞歸過程按“語法二叉樹與矩陣對應(yīng)關(guān)系”采用矩陣表示子樹,,并按“矩陣組合邏輯運(yùn)算規(guī)則”進(jìn)行運(yùn)算獲得子樹對應(yīng)的矩陣,;

    (3)遞歸至語法二叉樹的根節(jié)點(diǎn)時,算法結(jié)束。

2.2 算法驗證

2.2.1 零耦合條件的判定的驗證

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2.2.2 帶耦合條件的判定的驗證

    帶耦合條件的判定是指判定中存在部分重復(fù)條件,。以(P1 and P2 and P3) or (P1 and (P2 and P4))為例,,條件P1、P2重復(fù)出現(xiàn)(判定中重復(fù)出現(xiàn)的條件采用P1′,、P2′表示),。按照算法步驟先轉(zhuǎn)化為語法二叉樹,如圖2所示,。

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    在處理帶耦合條件的判定時,,在2.1算法步驟中增加兩個規(guī)則:(1)一致性規(guī)則。在遞歸過程中遇到重復(fù)條件時,,為保證重復(fù)條件取值的一致性,,在矩陣中選擇重復(fù)條件取值一致的MC/DC對進(jìn)行運(yùn)算。(2)構(gòu)造規(guī)則,。為了保證一致性,,矩陣中MC/DC對數(shù)量受到了限制,不能滿足Chilenski原則,,因此需要通過構(gòu)造方式來滿足該原則,。以左矩陣中與重復(fù)條件相關(guān)的MC/DC對為基礎(chǔ),補(bǔ)充構(gòu)造右矩陣中條件,,構(gòu)造時需遍歷相應(yīng)子樹進(jìn)行正確性驗證,。構(gòu)造完右矩陣中條件對應(yīng)的MC/DC對后,在其基礎(chǔ)上反轉(zhuǎn)非重復(fù)條件,,構(gòu)造左矩陣中的MC/DC對,。

3 實(shí)驗分析

    最小真值表法、快速生成算法等算法都是依據(jù)判定中的多種條件不斷進(jìn)行判斷,、歸約,,從而依次生成每個用例。本算法從語法二叉樹的葉子端向根節(jié)點(diǎn)遞歸,,每次遞歸得到的都是當(dāng)前子樹的MC/DC最小測試用例集,,其測試用例集始終限制在最小維度,而且遞歸過程只需進(jìn)行簡單的矩陣組合邏輯運(yùn)算,,因此,,在手動生成測試用例方面更快速、簡潔,、直觀,。最小真值表法、快速生成算法等算法只能獲得唯一一個最小測試用例集,,無法得到其余的最小測試用例集,。保證冗余的測試用例是有必要的[12],。在2.2.1的驗證中,本算法同時生成了兩個最小測試用例集,,可以證明該判定有且僅有這兩個最小測試用例集,,這表明本算法生成了完備的最小測試用例集,其可在不影響測試組大小范圍的情況下有效提高錯誤檢測效率,。同時,在進(jìn)行矩陣組合邏輯運(yùn)算時,,任意選取左或右矩陣中結(jié)果為1(and運(yùn)算符)或0(or運(yùn)算符)的一行進(jìn)行運(yùn)算,,即可獲得唯一的最小真值矩陣。

    在判定(零耦合條件)的唯一最小測試用例的自動生成所需時間方面,,本算法首先生成語法二叉樹,,然后由葉子節(jié)點(diǎn)向根節(jié)點(diǎn)進(jìn)行遞歸,由于左,、右子樹可以實(shí)現(xiàn)并發(fā)遞歸,,因此對于左、右子樹較對稱的,、葉子節(jié)點(diǎn)較多的語法二叉樹而言,,其所需的時間優(yōu)于快速生成算法,具有快速生成測試用例的優(yōu)勢,。算法生成時間比較結(jié)果見表1,,其中非布爾表達(dá)式分別為:(1)(P1 or P2) and (P3 and P4);(2)(P1 and P2 and P3) or (P4 and P5),;(3)(P1 and P2 and P3) or (P4 and (P5 and P6)),;(4)(P1 and P2 and (P3 or P4)) or (P5 and (P6 and P7 or P8))。但是,,本算法需要存儲空間存儲矩陣,,其對存儲空間的要求高于快速生成算法。

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    最小真值表法,、快速生成算法等算法只適合處理由標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)算符and,、or構(gòu)成的零耦合條件的判定,規(guī)避了對帶耦合條件的判定的分析,。本算法適用于存在耦合條件的判定的分析,,其在生成測試用例過程中雖需要遍歷語法二叉樹進(jìn)行驗證,但生成的測試用例集滿足MC/DC要求,,且遍歷時只需對部分子樹進(jìn)行遍歷,,因此數(shù)量遠(yuǎn)小于全遍歷情況,對帶耦合條件的判定的分析具有一定借鑒意義,。與謝祥南等[7]的耦合條件的MC/DC測試用例集生成算法相比,,本算法比較簡潔直觀,,但對于復(fù)雜的強(qiáng)耦合條件的判定的分析,本算法還有不足,,需要進(jìn)一步深入研究,。

4 結(jié)論

    不同測試工具對于代碼的覆蓋能力是有區(qū)別的,通常能夠支持MC/DC的測試工具的價格極其昂貴[13],。本文提出的算法基于語法二叉樹,,從葉子節(jié)點(diǎn)開始采用符合MC/DC覆蓋準(zhǔn)則的矩陣進(jìn)行遞歸,可快速,、直觀,、有效地處理零耦合條件的判定,并生成完備的的最小測試用例集,,適合自動或手動生成,。對于帶耦合條件的復(fù)雜判定,本算法也有一定適用性,,其生成的測試用例集合遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于全遍歷情況,,這在減輕測試工程師工作量、提高工作效率方面有一定借鑒意義,。下一步將對帶耦合條件的判定做進(jìn)一步研究,,提高其算法的生成效率。

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作者信息:

黃孝倫,,王  東

(重慶市衛(wèi)生信息中心,重慶401120)

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