文獻標識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2016.11.007
中文引用格式: 王宇奇,何進,,張貴博,,等. BiCMOS帶隙基準電壓源的設計及應用[J].電子技術(shù)應用,2016,,42(11):33-36.
英文引用格式: Wang Yuqi,,He Jin,,Zhang Guibo,et al. Design and application of BiCMOS band-gap reference source[J].Application of Electronic Technique,,2016,,42(11):33-36.
0 引言
得益于集成電路技術(shù)的深入研究與迅速發(fā)展,各類基于模擬,、數(shù)字技術(shù)的通信設備和消費品已成為當今一大熱點,。帶隙基準電壓源是集成電路中非常關(guān)鍵的基本模塊,被用作參考電壓源,,具有高精度,、高穩(wěn)定的特點,且不受電源電壓和工作溫度的影響[1],。
帶隙基準電壓源廣泛應用于光接收機前置跨阻放大器(TIA),、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC),、低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO),、溫度傳感器、電壓檢測器,、高精度比較器等模擬和數(shù)?;旌霞呻娐分校遣豢扇鄙俚年P(guān)鍵基本模塊,其性能很大程度上決定了系統(tǒng)集成芯片的性能,。
基于CMOS工藝的帶隙基準源,,可以實現(xiàn)高集成度,達到較低的功耗,;基于雙極型工藝的帶隙基準源,,在高速電路有著廣泛的應用,有著很強的電流驅(qū)動能力,。而BiCMOS工藝技術(shù)可以實現(xiàn)將CMOS工藝與雙極型工藝集成在同一芯片上,,因而同時具備了兩者的優(yōu)點,它在集成芯片上所實現(xiàn)的高性能,,是其他兩種工藝不能達到的,。因此,采用BiCMOS工藝來進行帶隙基準電壓源的研究設計,,具有重要的意義[2],。
1 帶隙基準電壓源工作原理
帶隙基準電壓源的目標是產(chǎn)生一個基準電壓——與電源和工藝均不存在關(guān)系,且同時具有確定微小溫度特性,。假設電壓V1隨溫度升高而減小,電壓V2隨溫度升高而增加,,選取適當?shù)南禂?shù)α1和α2使得α1×(V1/
T)+α2×(
V2/
T)=0,。因此,能夠獲得帶隙基準電壓,,即有VREF=α1V1+α2V2,。
1.1 Brokaw帶隙基準電壓源結(jié)構(gòu)
Brokaw帶隙基準電壓源[3]的電路結(jié)構(gòu)如圖1所示。
從圖1不難看出:
當VREF電壓處于平衡點時,,流過晶體管Q1和Q2的電流IC1=IC2,,通過運算放大器的負反饋作用,使電路輸出電壓穩(wěn)定在基準電壓VREF,。Brokaw帶隙基準電壓源在平衡狀態(tài)下的輸出電壓為:
1.2 Kujik帶隙基準電壓源結(jié)構(gòu)
Kujik帶隙基準電壓源[4]的電路結(jié)構(gòu)如圖2所示,。
該電路結(jié)構(gòu)與Brokaw帶隙基準電壓源電路結(jié)構(gòu)有相似之處,通過運算放大器的負反饋作用,,得到穩(wěn)定的帶隙基準電壓VREF,。
圖中PNP晶體管Q1和Q2為二極管接法的雙極型晶體管,根據(jù)運算放大器的“虛短”,、“虛斷”特性,,可以得到輸出電壓VREF為:
2 BiCMOS帶隙基準電壓源的設計
2.1 電路分析
結(jié)合上述兩種帶隙基準電壓源結(jié)構(gòu)進行相應改進后,本文中的帶隙基準電壓源的整體電路如圖3所示,。
為了提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性,,利用“密勒效應”,在運算放大器的兩級之間添加一個大的電容進行密勒補償,得到一個低頻極點,。電容被分成幾個并聯(lián)以及采用了MOS管電容,,電阻也被分開采用了串聯(lián)的連接方式,均是考慮到了版圖設計以及匹配性的需求,。
在傳統(tǒng)的核心電路結(jié)構(gòu)中,,都是采用MOS管來為核心電路提供偏置電流,而本設計采用npn晶體管來提供偏置電流,。通過前面的分析,,可以得知使用MOS來提供偏置電流,會出現(xiàn)傳輸電流為零的“簡并點”現(xiàn)象,,需要啟動電路來激勵,,而npn晶體管則不存在這種“簡并點”,因此本設計中的核心電路不需要啟動電路來進行激勵,。此外,,運算放大器與晶體管Q3和Q4、電阻R3和R4共同構(gòu)成反饋回路,。因為設計目標中的輸出電壓為1.2 V,,雙極型晶體管的基極-發(fā)射極電壓VBE約為0.8 V,而電源電壓為3.3 V,,因此需要使用電阻進行分壓,,否則難以得到1.2 V的輸出電壓。
晶體管Q1和Q2采用二極管連接方式,,它們的發(fā)射極面積不相等,,其面積的比值為n:1。本文中兩個晶體管的發(fā)射極面積比值為16:2,,即n=8,,取該值一是降低失調(diào)的影響,二是提高器件匹配性,,因此這兩個晶體管的基極-發(fā)射極電壓VBE也不相等,。
由VB1=VB2可得:
則可得晶體管Q1和Q2的基極-發(fā)射極電壓VBE的差值ΔVBE為:
因此,調(diào)節(jié)上式中的電阻的比值,,便可以得到接近理想溫度系數(shù)的帶隙基準電壓,。
圖3的放大器結(jié)構(gòu)中,PMOS管M1,、M2和M3都是允許傳輸零電流的,,此時運算放大器無法正常工作,因為NMOS管M3的漏極存在零簡并點,。為了破壞這個“簡并點”,,需要一個啟動電路來進行激勵,。晶體管Q7、Q8,、Q9和電阻R8構(gòu)成的支路有電流傳輸,,由于3個晶體管都是以二極管的形式連接的,且每個晶體管的基極-發(fā)射極的電壓VBE為0.8 V,,則Q10的基極電壓為3個VBE,,即2.4 V,因此該晶體管會迅速開啟,,并有電流傳輸,,其發(fā)射極連接在運算放大器電路中的MOS管M3的漏極和M5的漏極之間,則Q10的發(fā)射極電流會迅速注入這兩個MOS管,,進而抬高節(jié)點電位,,激勵MOS管導通,從而使運算放大器達到正常工作狀態(tài),。待整個帶隙基準電路處于穩(wěn)定工作狀態(tài)時,, Q10發(fā)射極電位將被拉至帶隙基準電壓VREF與一個基極-發(fā)射極電壓VBE之和,即2.0 V,,此時Q10的基,、射兩極之間的壓降將會降到0.4 V,Q10關(guān)斷,,不再有電流傳輸,,節(jié)省了功耗。
2.2 版圖及后仿真
如圖4所示是帶隙基準電壓源的整體版圖,。整體電路版圖的周圍以及需要保護的器件的周圍都添加了保護環(huán),該版圖的面積為115 μm×220 μm,。
對帶隙基準電壓源進行后仿真,,結(jié)果如下:
(1)溫度系數(shù)
在3.3 V電源電壓和典型TT工藝角模型下,對帶隙基準電壓源在溫度-40 ℃~100 ℃進行掃描,,得到溫度系數(shù)的后仿真結(jié)果,,如圖5所示。輸出電壓約為1.2 V,,溫度系數(shù)約為10.0 ppm/℃,。
(2)電源抑制比
帶隙基準電壓源電源抑制比PSRR的后仿真結(jié)果如圖6所示,驗證環(huán)境:3.3 V電源電壓,,并加上1 V交流信號分量,,典型TT工藝角模型,工作溫度27℃,,頻率掃描范圍1 Hz~10 GHz,。從圖中可以看出,,在低頻時,帶隙基準電壓源后仿真的PSRR約為-69 dB,;10 kHz時,,PSRR約為-53 dB,具有較好的電源抑制特性,。
3 偏置電路的設計
3.1 偏置電路結(jié)構(gòu)
本文中的帶隙基準電壓源主要為跨阻放大器(TIA)芯片中的其他模塊提供穩(wěn)定的基準參考電壓,,將帶隙基準電壓源進行應用,完成了偏置電路模塊的設計,。圖7中,,帶隙基準電壓源的輸出電壓VREF從npn晶體管Q1的基極輸入,PMOS管M2和M3構(gòu)成了低壓共源共柵電流源,,且M3提供了一個偏置電壓Vb1,。PMOS管M5和電阻R3構(gòu)成了一個二極管方式連接的基本電流源,且M5產(chǎn)生了另一個偏置電壓Vb2,。通過改變電阻R2和R3的阻值,,調(diào)節(jié)偏置電壓Vb1和Vb2的大小,使所有MOS管工作時均處于飽和區(qū),。
偏置電壓Vb1和Vb2分別輸入到PMOS管M16,、M18、M20和M17,、M19,、M21的柵極,構(gòu)成了電流鏡,,并產(chǎn)生偏置電流,。帶寬調(diào)節(jié)功能主要通過改變itemp的電流值,進而影響輸出端電流信號,,使其速率發(fā)生改變,,最終使得輸出信號的帶寬變化。itemp的電流值由兩部分構(gòu)成,,一部分是由電流鏡產(chǎn)生的基本偏置電流,,第二部分是增量電流,這部分電流可以通過控制模塊來進行控制,,該模塊可以對產(chǎn)生增量電流的PMOS管的狀態(tài)(開啟或關(guān)斷)進行控制,。
3.2 偏置電路的帶寬調(diào)節(jié)功能
圖7中,存在兩個控制端ctl1和ctl2,,其中ctl1控制PMOS管M6和M8,,ctl2控制PMOS管M7和M9。ctl1和ctl2只有高(1),、低(0)兩種電位,。則ctl1和ctl2的邏輯電平控制組合共有11,、10、01和00 4種,,這4種不同的組合,,通過由MOS管構(gòu)成的簡單邏輯門如與非邏輯門、或非邏輯門和非邏輯門來實現(xiàn),。
如果ctl1和ctl2的控制組合為11或00,,可以看出,這兩種組合對增量電流的產(chǎn)生沒有作用,,甚至會影響電路的穩(wěn)定性,。因此,不會產(chǎn)生11和00控制組合,。
當ctl1和ctl2的控制組合為10時,,ctl1控制的PMOS管M6和M8處于關(guān)斷狀態(tài),ctl2控制的PMOS管M7和M9處于開啟狀態(tài),。則提供一個(Vb2-Vds)偏置電壓到M11和M13的柵極,,使其開啟,產(chǎn)生屏蔽特性,;另外,,提供了一個(Vb2-Vds)偏置電壓到M10和M12的柵極,使這兩個PMOS管開啟,,產(chǎn)生增量偏置電流,。
當ctl1和ctl2的控制組合為01時,ctl1控制的PMOS管M6和M8處于開啟狀態(tài),,ctl2控制的PMOS管M7和M9處于關(guān)斷狀態(tài),,此時M7和M9承擔隔離電壓Vb1和Vb2的作用。那么,,M8的漏極與M9的源極間電位為1,,使得M10和M12處于關(guān)斷狀態(tài);此外,,M6的漏極與M7的源極間電位也為1,使得M11和M13也處于關(guān)斷狀態(tài),,則無增量偏置電流產(chǎn)生,。
實際電路中,有多個這樣的可控電流模塊并列,,通過對不同可控電流模塊分別提供不同的控制組合,,可以實現(xiàn)不同個數(shù)的可控偏置電流的疊加。則需要全局控制邏輯對其進行控制,,如圖8所示,,引入了邏輯信號bwh_ctl和bwl_ctl,,共有4種邏輯電平控制組合:11、10,、01和00,。則可以對TIA的輸出信號的帶寬實現(xiàn)4檔調(diào)節(jié),經(jīng)過多次驗證,,4檔調(diào)節(jié)滿足需求,。
3.3 版圖及后仿真
圖9所示為偏置的整體版圖。同樣的,,整體電路版圖的周圍以及需要保護的器件的周圍都添加了保護環(huán),,該版圖的面積為154 μm×94 μm。
對偏置電路進行后仿真,,驗證其帶寬調(diào)節(jié)功能,。在3.3 V的電源電壓、TT工藝角模型時,,對整個TIA電路系統(tǒng)進行交流后仿真,,頻率掃描范圍從1 Hz到100 GHz,得到帶寬調(diào)節(jié)功能的后仿真結(jié)果如圖10所示,。從圖中可以看出,,TIA的輸出信號的增益均為73 dB左右;組合為11,、10,、01和00時,TIA的輸出信號的帶寬分別為7.9 GHz,、8.9 GHz,、9.8 GHz和10.1 GHz,實現(xiàn)了約2.2 GHz的帶寬調(diào)節(jié)范圍,,足夠滿足不同應用的需求,。
4 總結(jié)
本文結(jié)合兩種傳統(tǒng)的帶隙基準電壓源結(jié)構(gòu),設計了應用于TIA芯片的帶隙基準電壓源,,并進行了結(jié)構(gòu)優(yōu)化,,實現(xiàn)了良好的性能。設計實現(xiàn)了具有帶寬調(diào)節(jié)功能的偏置電路,,使得TIA輸出信號可以實現(xiàn)7.9 GHz至10.1 GHz范圍的帶寬調(diào)節(jié),,提高了TIA芯片的應用范圍。完成版圖設計,,目前正在進行MPW流片,。之后,將根據(jù)流片測試結(jié)果,,進一步對電路結(jié)構(gòu)進行改進,。
參考文獻
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