前言

　　筆者公司近期接到多起用戶來電,，咨詢他們的網(wǎng)絡(luò)在使用中部分信息點(diǎn)會(huì)由千兆自動(dòng)降低為百兆（項(xiàng)目交付使用少于1年），溝通中得知用戶這些故障信息點(diǎn)驗(yàn)收時(shí)采用FLUKE設(shè)備進(jìn)行測試,，測試性能符合要求,，進(jìn)一步溝通得知選擇信道作為驗(yàn)收測試標(biāo)準(zhǔn)，即每個(gè)信息點(diǎn)包含一條永久鏈路和兩條用戶數(shù)據(jù)跳線,。

　　針對(duì)這個(gè)問題,，我們從以下幾個(gè)方面進(jìn)行了分析：

　　1、實(shí)際使用中的通道線路和測試通道是否相同,，就是說實(shí)際使用的用戶跳線和測試時(shí)使用的跳線是否為同一根跳線,。

　　2、網(wǎng)絡(luò)環(huán)境是否正常,，眾所周知當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)設(shè)備（網(wǎng)卡）是具有自適應(yīng)功能的,，當(dāng)網(wǎng)絡(luò)環(huán)境發(fā)生變化時(shí)會(huì)自動(dòng)切換到千兆或者百兆的應(yīng)用狀態(tài)。

　　3,、使用過程中網(wǎng)絡(luò)線路是否被損壞,，如模塊,、水晶頭是否被腐蝕,、損壞等。

　　由于網(wǎng)絡(luò)設(shè)備具有優(yōu)先自適應(yīng)選擇千兆的特點(diǎn),，使用過程中隨著誤碼率的不斷增加和累積,，最終可能導(dǎo)致千兆網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)降低為百兆。因此筆者公司用戶咨詢的情況,，經(jīng)過實(shí)驗(yàn)研究分析,，其發(fā)生的最大可能是用戶跳線的性能存在缺陷,，本文將著重討論從標(biāo)準(zhǔn)到應(yīng)用兩方面來分析用戶跳線性能與系統(tǒng)的關(guān)系。

　　不同測試模型分析

　　我們知道FLUKE測試設(shè)備在選擇“Channel”測試模型進(jìn)行測試時(shí),，并不包含兩端接入適配器的跳線接頭（水晶頭）,，設(shè)備在測試時(shí)會(huì)自動(dòng)扣除鏈路兩端水晶頭的影響，換句話說就是用于測試的跳線的水晶頭性能好壞,，基本不會(huì)影響到最終的測試結(jié)果,，而實(shí)際網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用時(shí)則不能排除跳線水晶頭的影響。

　　為確保網(wǎng)絡(luò)能在千兆狀態(tài)下穩(wěn)定的運(yùn)行,，物理布線需要達(dá)到怎樣的性能,、何種進(jìn)行驗(yàn)收才能保證呢？

　　端到端網(wǎng)絡(luò)設(shè)備通訊鏈路在標(biāo)準(zhǔn)中被定義為信道（Channel）,，一個(gè)信道鏈路包含一條水平鏈路,、2條用戶跳線，當(dāng)水平鏈路采用永久鏈路“Perm.Link”模型,、跳線采用跳線單體“Patchcord”模型測試并分別符合要求后,，則這條信道鏈路定能滿足要求。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)TIA568規(guī)定,，標(biāo)準(zhǔn)鏈路,、信道測試模型如下：

　　在實(shí)際項(xiàng)目的驗(yàn)收測試中，以選擇FLUKEDTX1800測試儀為例,，不同測試模型對(duì)應(yīng)FLUKE的測試適配器如表1,。

　　通過以上分析，要獲得穩(wěn)定可靠的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用,，工程驗(yàn)收時(shí)水平鏈路應(yīng)選擇永久鏈路模型進(jìn)行測試,、跳線應(yīng)選擇對(duì)應(yīng)的跳線單體模型測試。根據(jù)TIA568標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：跳線單體測試參數(shù)在回波損耗,、近端串音方面比信道測試的參數(shù),，其余量在高頻下（≧16MHz）分別高出5dB以上，且頻率越高差距越大,。不同測試模型下的性能參數(shù)比較見表2,。

　　用戶跳線驗(yàn)收模型選擇

　　水平鏈路的永久鏈路測試模型，目前已經(jīng)越來越多地應(yīng)用于各類工程項(xiàng)目的綜合布線驗(yàn)收,，而跳線的單體測試模型卻很少被用戶所熟知,，下面簡單介紹一下跳線的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及測試方法。

　　作為工程驗(yàn)收的主要設(shè)備之一,，F(xiàn)LUKE是業(yè)內(nèi)認(rèn)可度最高的設(shè)備,。下面以FLUKEDTX1800測試Cat6為例來進(jìn)行分析：

　　FlukeDTX系列Cat6跳線測試適配器（屏蔽、非屏蔽通用）,，包括：FlukeDTX主機(jī)適配器（FlukeDTX-PCU6/MN）和FlukeDTX遠(yuǎn)端適配器（FlukeDTX-PCU6/SR）,，測試時(shí)兩個(gè)適配器需要分別安裝在設(shè)備的主機(jī)及遠(yuǎn)端,，不得安裝錯(cuò)誤。

　　測試時(shí)一般選擇跳線TIA標(biāo)準(zhǔn),，選擇該測試模型時(shí),，主要的測試參數(shù)如下：

　　接線圖，確保端接的正確性

　　近端串?dāng)_(NEXT)(單向)

　　回波損耗(單向)

　　通過/失敗測試限

　　在測試參數(shù)項(xiàng)目中需要特別注意到的是,，近端串?dāng)_,、回波損耗標(biāo)識(shí)為“單向”，也就是說在選擇跳線單體標(biāo)準(zhǔn)測試跳線時(shí),，設(shè)備測試出來的僅僅是跳線與主機(jī)端相連的水晶頭性能參數(shù),，因此要驗(yàn)證一根跳線是否合格，必須要將跳線兩端的水晶頭分別與FLUKE測試設(shè)備的主機(jī)進(jìn)行連接才能最終進(jìn)行判定,，即判斷一根跳線是否合格,，最少需要經(jīng)過兩次測試才能確定，這一點(diǎn)與其他的測試模型都是完全不一樣的,。

　　FLUKE跳線測試適配器內(nèi)的模塊是有使用壽命的,，一般情況下插拔10000次（測試5000條跳線）就需要更換新的測試模塊。

　　另外,，除跳線生產(chǎn)時(shí)存在的缺陷外,，插拔次數(shù)超過極限的跳線也有可能會(huì)引起千兆網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)切換到百兆的現(xiàn)象，一般在插拔750次以內(nèi)不會(huì)影響跳線性能,，當(dāng)跳線的插拔次數(shù)不斷增加以后（超過1500次）,，跳線水晶頭金片上的鍍金層將會(huì)被磨擦掉，隨之與模塊金針接觸的將是水晶頭的鍍鎳層,，這樣將會(huì)增加水晶頭的接觸電阻,，從而導(dǎo)致跳線性能下降。因此對(duì)于一些插拔比較頻繁的跳線,，應(yīng)當(dāng)定期進(jìn)行更換,。

　　羅森伯格作為專業(yè)的布線廠商，所有出廠跳線產(chǎn)品都經(jīng)過了100%嚴(yán)格的跳線單體測試（兩端測試）,，為用戶網(wǎng)絡(luò)長期穩(wěn)定的應(yīng)用提供了良好的基礎(chǔ),。