隨著超大規(guī)模集成電路技術(shù)的發(fā)展,，現(xiàn)代電子系統(tǒng)中印刷電路板越來(lái)越復(fù)雜，多層板的設(shè)計(jì)也越來(lái)越普遍,。由于大量使用各種表貼元件和BGA封裝元件,，使得元器件的管腳密度不斷提高，采用萬(wàn)用表,、示波器測(cè)試芯片的傳統(tǒng)“探針”方法已經(jīng)不能滿足要求,。基于此,，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組JTAG（Joint Test Action Group）于1988年提出了第一個(gè)邊界掃描機(jī)制的標(biāo)準(zhǔn),，即JTAG標(biāo)準(zhǔn)[1]。邊界掃描技術(shù)是應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的測(cè)試性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方法,。所謂“邊界”是指測(cè)試電路被設(shè)置在IC器件邏輯功能電路的四周,，位于靠近器件輸入、輸出引腳的邊界處,。所謂“掃描”是指連接器件各輸入,、輸出引腳的測(cè)試電路實(shí)際上是一種串行移位寄存器，這種移位寄存器叫做“掃描路徑”,，沿著這條路徑可輸入由“0”和“1”組成的各種編碼,，對(duì)電路進(jìn)行“掃描”式檢測(cè)，從而定位故障芯片,，并對(duì)芯片進(jìn)行更換,。然而，人們對(duì)具體電路測(cè)試向量的生成主要是依靠軟件實(shí)現(xiàn),，但當(dāng)面臨大規(guī)模復(fù)雜問(wèn)題時(shí),，基于軟件的測(cè)試向量生成方法往往在速度上受到本質(zhì)是串行的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的制約,，導(dǎo)致運(yùn)算速度較慢。本文設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的邊界掃描測(cè)試向量發(fā)生器,，由于FPGA并行運(yùn)行的特性,，提高了測(cè)試向量產(chǎn)生的速度和效率。
1 數(shù)據(jù)域測(cè)試理論與算法
    數(shù)據(jù)域測(cè)試是對(duì)數(shù)字電路或系統(tǒng)進(jìn)行故障偵查,、定位和診斷[2],。數(shù)據(jù)域測(cè)試是提高數(shù)字系統(tǒng)可靠性的重要途徑，對(duì)當(dāng)代集成電路工業(yè)具有舉足輕重的作用,。
1.1 固定型故障模型
    固定型故障模型是指電路或系統(tǒng)中某一信號(hào)線在系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程中總是固定在某一邏輯值上[3],。如果該線固定在邏輯高電平上，則稱之為固定1故障,簡(jiǎn)記為s-a-1,；如果該線固定在邏輯低電平上,，則稱之為固定0故障，簡(jiǎn)記為s-a-0,。
1.2 布爾差分算法
    布爾差分法是用數(shù)學(xué)方法來(lái)研究故障的傳播,，從而求得故障的測(cè)試集[4]。為了敘述方便,，本文對(duì)于布爾函數(shù)f(X)=f(x1,，x2，…,，xn)定義如下：
    f(xi)=f(x1,，x2，…,，xi,，…，xn)

    LFSR的邏輯功能完全由其反饋函數(shù)決定,，圖1中所示的LFSR的行為完全由反饋系數(shù)Ci決定,，由反饋系數(shù)Ci在二元域上定義的多項(xiàng)式：

稱為該線性反饋移位寄存器的特征多項(xiàng)式。以n次本原多項(xiàng)式為特征多項(xiàng)式的LFSR可產(chǎn)生周期為2n-1的偽隨機(jī)序列,。
3.2 故障運(yùn)算機(jī)模塊
    本文以ISCAS`85基準(zhǔn)電路的C17電路為例來(lái)設(shè)計(jì)故障運(yùn)算機(jī)模塊,。C17電路的單固定故障數(shù)目為34。將故障注入控制字M和Fv的寬度設(shè)置為9位,，表示每個(gè)周期可以執(zhí)行8個(gè)故障的計(jì)算,，每5個(gè)時(shí)鐘周期，測(cè)試向量保持不變,，故障運(yùn)算機(jī)模塊依次注入全部故障,。故障注入控制字的數(shù)據(jù)如圖2所示。表中陰影部分第一、二周期以及第三個(gè)周期中M[16],、Fv[16]表示注入固定1型故障,，其余部分表示注入固定0型故障。

3.3 結(jié)果處理模塊
3.3.1 結(jié)果處理第一級(jí)模塊
    由于本系統(tǒng)是并行運(yùn)行的,，若有多個(gè)輸出則可能對(duì)同一個(gè)故障重復(fù)觀察,。因此，本系統(tǒng)要實(shí)現(xiàn)故障覆蓋率的計(jì)算,。結(jié)果處理第一級(jí)模塊就要消除對(duì)故障的重復(fù)計(jì)算。
3.3.2 結(jié)果處理第二級(jí)模塊
    結(jié)果處理第二級(jí)模塊是排除一個(gè)測(cè)試向量集對(duì)同一個(gè)故障在輸出端重復(fù)觀察的影響,，第二級(jí)模塊以第一級(jí)模塊輸出作為輸入,，可以求得故障覆蓋率，并通知邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)采集測(cè)試向量,。
3.4 控制模塊
    控制模塊主要協(xié)調(diào)各個(gè)模塊的工作時(shí)序,，使各功能模塊可以在控制信號(hào)下有序工作。clk2是偽隨機(jī)測(cè)試向量產(chǎn)生模塊的時(shí)鐘頻率,，clk2的時(shí)鐘周期是系統(tǒng)時(shí)鐘周期的k倍,。設(shè)電路中的故障總數(shù)為M，每個(gè)時(shí)鐘周期可以模擬的故障數(shù)目為N,，,，其中int為取整。
3.5 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理圖
    使用Quartusii軟件建立系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理圖如圖3所示,。該系統(tǒng)通過(guò)并行故障模擬算法生成測(cè)試向量,，可通知邊界掃描故障診斷系統(tǒng)對(duì)測(cè)試向量進(jìn)行采集并存入存儲(chǔ)器中，并可以求出測(cè)試向量集的故障覆蓋率,。

4 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)以及結(jié)果分析
4.1 資源占用
    本系統(tǒng)采用Altera公司的Cyclone II系列EP2C5-AF256A7芯片進(jìn)行驗(yàn)證與實(shí)現(xiàn),。系統(tǒng)資源占用報(bào)告如圖4所示。從報(bào)告中可以看出,，硬件實(shí)現(xiàn)的測(cè)試向量發(fā)生器占用了較少的硬件資源,，該芯片有足夠的硬件資源供系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化和完善。

4.2 結(jié)果分析
    本文采用Quartusii 9.0軟件以及Modelsim軟件對(duì)各個(gè)功能模塊及系統(tǒng)進(jìn)行仿真,，分析結(jié)果表明了設(shè)計(jì)的正確性,。系統(tǒng)的仿真結(jié)果如圖5所示，從波形中可知,，所得測(cè)試向量集的故障覆蓋率達(dá)到了90%以上,。實(shí)踐表明，若單固定型故障覆蓋率達(dá)到90%以上就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)系統(tǒng)的大部分故障進(jìn)行檢測(cè),。從仿真結(jié)果中可知本設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了期望的功能,。
    本文采用Altera公司的FPGA器件，設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的、為邊界掃描故障診斷系統(tǒng)提供測(cè)試向量的測(cè)試向量發(fā)生器,。與以往的通過(guò)軟件生成測(cè)試向量的方法相比,，雖然消耗了一定的硬件資源，但在速度和效率上得到了提高,。由于本文生成測(cè)試向量的方法處于試驗(yàn)階段,，還有待優(yōu)化與完善。
參考文獻(xiàn)
[1] 宋克柱.邊界掃描測(cè)試的原理及應(yīng)用設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù),，2001,，28(10)：605-606.
[2] 陳光禹.數(shù)據(jù)域測(cè)試及儀器[M].電子科技大學(xué)出版社，2001.
[3] 陳光禹.可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)[M].電子工業(yè)出版社,，1997.
[4] 古天祥.電子測(cè)量原理[M].機(jī)械工業(yè)出版社,，2009.
[4] 陳建武.基于FPGA的故障模擬器[D].湖南：湖南大學(xué)，2010.