嵌入式系統(tǒng)內(nèi)存檢測分析
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：在大部分嵌入式系統(tǒng)中,，內(nèi)存的好壞主要依賴于內(nèi)存芯片廠家的檢測,，對系統(tǒng)運行中出現(xiàn)的內(nèi)存偶然故障,，缺乏有效的檢測手段,。對嵌入式系統(tǒng)中內(nèi)存檢測的各個階段,、內(nèi)存檢測方式以及全空間檢測方法等進行了詳細描述,。
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