利用6517A型靜電計(jì)/高阻表對(duì)惰性氣體或高真空中的小型晶體進(jìn)行高值電阻測(cè)量 | |
所屬分類:解決方案 | |
上傳者:keithley | |
文檔大小:934 K | |
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文檔介紹:晶體材料是現(xiàn)代電子和光電子技術(shù)的基礎(chǔ)。因此,這些材料的電子特性,如(各向異性) 電導(dǎo)率和光電導(dǎo)率以及與這些特性有關(guān)的溫度依存性,都是研究人員關(guān)注的問(wèn)題。采用大量結(jié)晶技術(shù)的晶體生長(zhǎng)尺寸可能不大,但往往表現(xiàn)出極高的電阻。這個(gè)應(yīng)用筆記說(shuō)明如何利用專門設(shè)計(jì)的測(cè)量室和分子束沉積(MBD)系統(tǒng)(在晶體或薄膜生長(zhǎng)過(guò)程中對(duì)其進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量)來(lái)測(cè)量高達(dá)1017Ω的電阻。 | |
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