基于邊界掃描技術的數字系統測試研究
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
文檔大?。?span>327 K
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文檔介紹：介紹了支持JTAG標準的IC芯片結構、邊界掃描測試原理以及利用邊界掃描技術控制IC芯片處于特定功能模式的方法,。針對IC芯片某種特定的功能模式給出了設計思路和方法,，并用兩塊xc9572 pc84芯片互連的PCB板為例進行設計分析和實驗實現,。通過實驗實現,體現了邊界掃描技術易于電路系統調試和方便系統設計的特點，且設計的系統控制邏輯簡單方便,，易于實現,。
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