基于隨機(jī)測(cè)試的SoC系統(tǒng)級(jí)功能驗(yàn)證方法的研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
文檔大?。?span>200 K
所需積分：0分積分不夠怎么辦,？
文檔介紹：為了克服RTL級(jí)驗(yàn)證方法的局限性，提出了采用隨機(jī)測(cè)試向量在SoC的系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行功能驗(yàn)證的方法。該方法采用高級(jí)建模語(yǔ)言來(lái)構(gòu)建系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試平臺(tái),，采用多種隨機(jī)化機(jī)制來(lái)生成測(cè)試向量。測(cè)試結(jié)果表明,該方法不僅能夠獲得較好的功能覆蓋率,，而且能夠盡可能早地發(fā)現(xiàn)SoC設(shè)計(jì)中的功能性錯(cuò)誤,。
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分,；重復(fù)下載不扣分,，本人上傳資源不扣分。