TMS320F2812是高精度的DSP,，其運(yùn)算速度快，工作時(shí)鐘頻率達(dá)150 MHz,，指令周期可達(dá)6.67 ns以內(nèi),，低功耗(核心電壓1.8 V，I/O口電壓3.3 V)。采用哈佛總線結(jié)構(gòu),，具有強(qiáng)大的操作能力,、迅速的中斷響應(yīng)和處理能力以及統(tǒng)一的寄存器編程模式。并且在片上集成了Flash存儲(chǔ)器,，可實(shí)現(xiàn)外部存儲(chǔ)器的擴(kuò)展,。外部擴(kuò)展模塊(PIE)可支持96個(gè)外部中斷，45個(gè)可用,。兩個(gè)增強(qiáng)的事件管理器模塊(EVA,、EVB)，提供了一整套用于運(yùn)動(dòng)控制和電機(jī)控制的功能和特性,。每個(gè)事件管理模塊包括通用定時(shí)器(GP),、比較單元、捕獲單元以及正交編碼脈沖電路,。外圍設(shè)備包括3個(gè)32 bit的CPU定時(shí)器,，16通道12 bit ADC(單個(gè)轉(zhuǎn)換時(shí)間為200 ns，單路轉(zhuǎn)換時(shí)間為60 ns),，它不僅具有串行外圍接口(SPI)和兩個(gè)串行通信接口(SCI),，還有改進(jìn)的局域網(wǎng)絡(luò)(eCAN)、多通道緩沖串行接口(McBSP)和串行外圍接口模式[1],。
    28X核提供了高達(dá)400 MIPS的計(jì)算帶寬,，它能夠滿足大多數(shù)經(jīng)典實(shí)時(shí)控制算法，在工業(yè)自動(dòng)化,、光傳輸網(wǎng)絡(luò)和自動(dòng)控制等領(lǐng)域擁有應(yīng)用前景,。但是，在獲得其較高工作時(shí)鐘頻率150 MHz,、低功耗的I/O口3.3 V電壓的同時(shí),，對(duì)其在電磁兼容和ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換單元等實(shí)際應(yīng)用提出了更高的要求。特別是ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換單元,，受到了眾多使用者的詬病,，稱其實(shí)測(cè)的精度甚至低于TMS320F2407的10 bit ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換精度。有人懷疑TMS320F2812核內(nèi)數(shù)字地和模擬地連接設(shè)計(jì)有缺陷,，但尚未得到TI公司的證實(shí),。TI公司發(fā)布了SPRA989[2]的ADC校準(zhǔn)文檔，僅修正了模數(shù)轉(zhuǎn)換的增益和偏移,，與完全實(shí)用的要求尚有一定差距,。本文從實(shí)際應(yīng)用的角度出發(fā)，考慮其外圍設(shè)計(jì)因素,，提高ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換精度,。
1 ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換精度分析以及測(cè)試方法
    影響ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換最終結(jié)果精度的原因很多，諸如芯片內(nèi)部模數(shù)轉(zhuǎn)換、模數(shù)轉(zhuǎn)換的增益和偏移引起的誤差,，這些都是生產(chǎn)廠商控制和研究的領(lǐng)域,，本文不作討論。本文只考慮用戶可以修改和控制的范疇,，如修改外圍硬件設(shè)計(jì)減少輸入誤差,、調(diào)節(jié)芯片參數(shù)減少輸入和轉(zhuǎn)換誤差、軟件濾波減少輸出誤差,。圍繞這3個(gè)環(huán)節(jié)可細(xì)化分解為：硬件RC濾波輸入信號(hào)的影響,、供電電源濾波的影響、芯片工作時(shí)鐘頻率的影響,、芯片的ADC轉(zhuǎn)換窗口大小的影響,、使用外部RAM的影響、輸出信號(hào)軟件濾波的影響以及上述方法的組合等[3,，4],。
    使用DH1718D－2雙路跟蹤穩(wěn)壓穩(wěn)流電源提供測(cè)試的輸入電壓信號(hào)，通過(guò)TDS2014數(shù)字存儲(chǔ)示波器測(cè)量輸入電壓信號(hào),，用含TMS320F2812的最小系統(tǒng)板IMEZ2812V3.4板進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,，最后通過(guò)SEED－XDSPP仿真器，在計(jì)算機(jī)仿真軟件上監(jiān)測(cè)并記錄輸出電壓信號(hào),。
    將上述設(shè)備按以下步驟進(jìn)行連接測(cè)試：
    (1)將計(jì)算機(jī)和SEED－XDSPP仿真器通過(guò)并口連接,。
    (2)將SEED－XDSPP仿真器和IMEZ2812V3.4板通過(guò)JTAG口連接。
    (3)將DH1718D－2雙路跟蹤穩(wěn)壓穩(wěn)流電源電壓調(diào)至0～3 V,，并連接至IMEZ2812V3.4板的JP4口的R_ADCINA6腳和DSP_VSSA(ADCLO)腳,。
    (4)用TDS2014數(shù)字存儲(chǔ)示波器測(cè)試輸入電壓信號(hào)，并用計(jì)算機(jī)仿真軟件觀測(cè)仿真測(cè)試結(jié)果曲線,。
    (5)分別增加輸入信號(hào)硬件濾波,、電源濾波和軟件信號(hào)濾波及改變相關(guān)ADC寄存器值，并重復(fù)以上步驟測(cè)試,。
    先使用恒定電壓輸入信號(hào)比較不同設(shè)定方案的效果,，然后對(duì)選定方案進(jìn)行全量程校核。
2 ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換精度測(cè)試過(guò)程及狀態(tài)描述
    取基準(zhǔn)狀態(tài)為：測(cè)試直連輸入信號(hào),，外部RAM,，PLL=0x0A，HSPCLK=1,，ADCCLKPS=2,，CPS=1，ACQPS=0,。其余狀態(tài)未加說(shuō)明的均為基準(zhǔn)狀態(tài)＋變化狀態(tài),。分別進(jìn)行ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換精度測(cè)試,。
2.1 恒定電壓模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試比較
    圖1恒定電壓模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試比較的12幅圖對(duì)應(yīng)測(cè)試狀態(tài)及結(jié)果如表1。

2.2 全量程電壓模數(shù)轉(zhuǎn)換校驗(yàn)
    通過(guò)以上測(cè)試恒定電壓模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試比較,，綜合考慮轉(zhuǎn)換精度和轉(zhuǎn)換時(shí)間，采用以下方案：硬件濾波輸入信號(hào),，軟件信號(hào)濾波10x10,，電源濾波100 u，內(nèi)部RAM,，PLL=0x0A,，HSPCLK=1，ADCCLKPS=2,，CPS=1,，ACQPS=0。在上述狀態(tài),，ADC全量程轉(zhuǎn)換測(cè)試結(jié)果如表2,。

    通過(guò)圖2可以看出，上述方案不僅在恒定電壓2 V時(shí)可以提高ADC轉(zhuǎn)換精度,，在TMS320F2812的ADC全量程范圍內(nèi),，均可以獲得較好的轉(zhuǎn)換精度。

    通過(guò)以上ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試結(jié)果,，可以得出以下結(jié)論：
    (1)在外部RAM中運(yùn)行程序ADC轉(zhuǎn)換誤差較大,。
    (2)降低芯片主頻可以提高ADC轉(zhuǎn)換精度。
    (3)增大采樣窗口可以提高ADC轉(zhuǎn)換精度,，但轉(zhuǎn)換時(shí)間相應(yīng)延長(zhǎng),。
    (4)電源濾波可以提高ADC轉(zhuǎn)換精度。
    (5)輸入信號(hào)硬件RC濾波可以大幅度提高ADC轉(zhuǎn)換精度,。
    (6)軟件濾波可以大幅度提高ADC轉(zhuǎn)換精度,，但轉(zhuǎn)換時(shí)間相應(yīng)延長(zhǎng)。
    綜合考慮上述結(jié)論,，可以采用2.2中建議的電源濾波＋硬件RC濾波＋軟件濾波方案來(lái)解決TMS320F2812的ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)量精度差的問(wèn)題,。

參考文獻(xiàn)
[1] Texas Instruments Incorporated，TMS320F2810,，TMS320F-2811,，TMS320F2812 Digital Signal Processors[R]，SPRS174K,，2004.6.
[2] Alex Tessarolo,，F(xiàn)2810，F(xiàn)2811,，and F2812 ADC Calibration [R].DSP Application Journal,，SPRA989,，2004，5.
[3] Texas Instruments Incorporated.TMS320F28x analog to digital converter(ADC) reference guide[R].SPRU060A,，2003,，10.
[4] 王幸之，王雷,，翟成,，等.單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)抗干擾技術(shù)[M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社，2003.