2011VOICE 論壇半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)論文征集
2010-10-20
作者:惠瑞捷
由首屈一指的半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷(納斯達(dá)克股票代碼:VRGY)舉辦的用戶組會(huì)議暨合作伙伴大會(huì)“2011VOICE技術(shù)會(huì)議”已經(jīng)展開(kāi)國(guó)際論文征稿活動(dòng)。第五屆年度VOICE會(huì)議將在2011年4月19日-21日,,位于加利福尼亞州圣克魯斯的查米納德度假村溫泉?jiǎng)俚?Chaminade Resort & Spa)召開(kāi),,大會(huì)將舉辦技術(shù)演示、研討會(huì)和小組討論,,涵蓋議題如設(shè)備的進(jìn)步,、測(cè)試技術(shù)和方法論、工程效益和性價(jià)比高的生產(chǎn)批量測(cè)試解決方案,,此外還有一場(chǎng)供應(yīng)商博覽會(huì),,與會(huì)者可以了解惠瑞捷最新的產(chǎn)品和服務(wù)及其來(lái)自世界各地的解決方案合作伙伴。
“除了技術(shù)介紹,,VOICE還提供了一個(gè)合作論壇,,可以交流最新的半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)和惠瑞捷 V93000、V101和V6000平臺(tái)的最佳實(shí)踐方面的觀點(diǎn),,” 惠瑞捷資深應(yīng)用工程師暨會(huì)議指導(dǎo)委員會(huì)主席Rich Lathrop說(shuō),,。“與會(huì)者有機(jī)會(huì)透過(guò)直接與測(cè)試設(shè)備研發(fā)專家的互動(dòng),,搶先一窺SOC,、閃存、DRAM和高速存儲(chǔ)器IC卡的最新高成品率測(cè)試解決方案,,以及全晶圓探針卡解決方案,。”
此次為期3天的會(huì)議提供了多種可供選擇的教育課程,從以產(chǎn)品為重點(diǎn)的教程和實(shí)踐動(dòng)手產(chǎn)品展示,,到討論新興的設(shè)備技術(shù)、全球性行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),,以及集成設(shè)備制造商(IDM),、無(wú)晶圓半導(dǎo)體公司和外包組裝與測(cè)試(OSAT)廠在未來(lái)對(duì)同行和技術(shù)專家的測(cè)試要求。
今年的征稿為有興趣的演講人提供了三種參與方式?,F(xiàn)已開(kāi)始接受摘要,,有30分鐘的短演講、45分鐘的長(zhǎng)篇演講或參與專家小組討論,,討論的技術(shù)主題如下:
●硬件和Loadboard解決方案,,包括最新的工具和設(shè)計(jì)發(fā)展趨勢(shì)
(Hardware and Loadboard Solutions, including the latest instruments and trends in design)
●測(cè)試技術(shù)和方法論,涉及新技術(shù)和新的解決方案
(Test Techniques and Methodologies, covering new technologies and new Solutions)
●測(cè)試工程的有效性,,包括開(kāi)發(fā)高效的測(cè)試方案的提示
(Test Engineering Effectiveness, including tips on developing efficient test programs)
●生產(chǎn)測(cè)試,,關(guān)注性價(jià)比高和吞吐量最優(yōu)化的解決方案
(Production Test, addressing cost-effective and throughput-optimized solutions)