《電子技術(shù)應(yīng)用》
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集成運算放大器參數(shù)測試儀校準(zhǔn)技術(shù)
摘要: 集成運算放大器(以下簡稱集成運放)以小尺寸、輕重量,、低功耗,、高可靠性等優(yōu)點廣泛應(yīng)用于眾多軍用和民用電子系統(tǒng),是構(gòu)成智能武器裝備電子系統(tǒng)關(guān)鍵器件之一,。近年來,,隨著微電子技術(shù)飛速發(fā)展,集成運放無論在技術(shù)性能上還是在可靠性上都日趨完善,,并在我國軍用系統(tǒng)中被大量使用,,其質(zhì)量好壞,關(guān)系到具體工程乃至國家安危,。
Abstract:
Key words :

        設(shè)計背景

  集成運算放大器(以下簡稱集成運放)以小尺寸,、輕重量、低功耗,、高可靠性等優(yōu)點廣泛應(yīng)用于眾多軍用和民用電子系統(tǒng),,是構(gòu)成智能武器裝備電子系統(tǒng)關(guān)鍵器件之一,。近年來,,隨著微電子技術(shù)飛速發(fā)展,集成運放無論在技術(shù)性能上還是在可靠性上都日趨完善,,并在我國軍用系統(tǒng)中被大量使用,,其質(zhì)量好壞,關(guān)系到具體工程乃至國家安危,。

  隨著集成運算放大器參數(shù)測試儀(以下簡稱運放測試儀)在國防軍工和民用領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,,其質(zhì)量問題顯得尤為重要。傳統(tǒng)運放測試儀校準(zhǔn)方案已不能滿足國防軍工要求,,運放測試儀校準(zhǔn)問題面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn),。因此,如何規(guī)范和提高運放測試儀測試精度,,保證軍用運放器件準(zhǔn)確性是目前應(yīng)該解決關(guān)鍵問題,。

  目前,,國內(nèi)外運放測試儀(或者模擬器件測試系統(tǒng))主要存在以下幾種校準(zhǔn)方案:校準(zhǔn)板法、標(biāo)準(zhǔn)樣片法和標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法,。各校準(zhǔn)方案校準(zhǔn)項目,、優(yōu)缺點和相關(guān)情況比較如表1所示。

各校準(zhǔn)方案校準(zhǔn)項目

  比較以上三種方案可知,,前兩種方法只是校準(zhǔn)儀器內(nèi)部使用PMU單元,、電流源、電壓源等,,并不涉及到儀器本身閉環(huán)測試電路部分,,局限性很大,很難保證運放測試儀集成運放器件參數(shù)測試精度,。而標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法直接面向測試夾具,,其校準(zhǔn)方法具有一定可行性,只是在校準(zhǔn)精度,、通用性,、測試自動化程度等方面需要進一步研究。因此,,通過對標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法加以改進,,對運放測試儀進行校準(zhǔn),開發(fā)出集成運放參數(shù)測試儀校準(zhǔn)裝置,,在參數(shù)精度和校準(zhǔn)范圍上,,能滿足國內(nèi)大多數(shù)運放測試儀;在通用性上,,能夠校準(zhǔn)使用“閉環(huán)測試原理”儀器,。

  系統(tǒng)性能要求

  本課題主要任務(wù)是通過研究國內(nèi)外運放測試儀校準(zhǔn)方法,改進實用性較強標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法,,用指標(biāo)更高參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)來校準(zhǔn)運放測試儀,,實現(xiàn)運放測試儀自動化校準(zhǔn)以及校準(zhǔn)原始記錄、校準(zhǔn)證書自動生成等,。

技術(shù)指標(biāo)比較

  表2為本課題中研制集成運放參數(shù)測試儀校準(zhǔn)裝置與市場上典型運放測試儀技術(shù)指標(biāo)比較情況,。從表2可以看出,校準(zhǔn)裝置技術(shù)指標(biāo)可以校準(zhǔn)市場上典型運放測試儀,。

  校準(zhǔn)裝置硬件設(shè)計方案

  校準(zhǔn)方案覆蓋了市場上運放測試儀給出大部分參數(shù),,其中包括輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流,、輸入偏置電流等10個參數(shù),。通過研究集成運放參數(shù)“閉環(huán)測試原理”可知:有參數(shù)校準(zhǔn)要用到“閉環(huán)測試回路”,有直接接上相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)儀器進行測量即可實現(xiàn)對儀器校準(zhǔn)。對于用到“閉環(huán)測試回路”幾個參數(shù)而言,,主要通過補償電源裝置和模擬電源裝置來校準(zhǔn),。運放測試儀總體校準(zhǔn)方案如圖1所示。

運放測試儀總體校準(zhǔn)框圖

圖1 運放測試儀總體校準(zhǔn)框圖

  1 校準(zhǔn)電路設(shè)計

  輸入失調(diào)電壓VIO定義為使輸出電壓為零(或者規(guī)定值)時,,兩輸入端所加直流補償電壓,。集成運放可模擬等效為輸入端有一電壓存在理想集成運算放大器,校準(zhǔn)原理如圖2所示,。通過調(diào)節(jié)補償電源裝置給輸入一個與VIO電壓等量相反電壓V補,,輸入就可等效為V=VIO V補=0,則被測集成運放與接口電路等效為一輸入失調(diào)電壓為零理想運算放大器,。然后,,調(diào)節(jié)模擬電源裝置,給定模擬標(biāo)準(zhǔn)運放輸入失調(diào)電壓參數(shù)值,。通過數(shù)字多用表讀數(shù)與被校運放測試儀測試值比較,,計算出誤差值,完成VIO參數(shù)校準(zhǔn),。

輸入失調(diào)電壓參數(shù)VIO校準(zhǔn)原理圖

圖2 輸入失調(diào)電壓參數(shù)VIO校準(zhǔn)原理圖

  2 單片機控制電路設(shè)計

  單片機采用AT89S51,,這是一個低功耗、高性能CMOS 8位單片機,,片內(nèi)含可反復(fù)擦寫1000次4kB ISP(In-system programmable) Flash ROM,。其采用ATMEL公司高密度、非易失性存儲技術(shù)制造,,兼容標(biāo)準(zhǔn)MCS-51指令系統(tǒng)及80C51引腳結(jié)構(gòu),,集成了通用8位中央處理器和ISP Flash存儲單元。

  本設(shè)計中,,采用單片機控制信號繼電器來實現(xiàn)電路測試狀態(tài)轉(zhuǎn)換,,信號繼電器選用是HKE公司HRS2H-S-DC5V,能夠快速完成測試狀態(tài)轉(zhuǎn)換,,只需單片機5V供電電源即可,,便于完成參數(shù)校準(zhǔn)。此外,,繼電器跳變由PNP三極管S8550來驅(qū)動完成,。

  3 液晶顯示電路設(shè)計

  智能彩色液晶顯示器VK56B是上海廣電集團北京分公司產(chǎn)品,具有體積小,、功耗低、無輔射,、壽命長,、超薄、防振及防爆等特點,。該 LCD采用工業(yè)級CPU,,機內(nèi)配置有二級字庫,,可通過串口或三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口接收控制命令數(shù)據(jù),并自行對接收命令和數(shù)據(jù)進行處理,,以實時顯示用戶所要顯示各種曲線,、圖形和中西文字體。AT89S51與智能化液晶VK56B接口電路如圖3所示,。單片機與LCD采用并行通信設(shè)計,,LCD自身具有一個三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口(并口為CMOS電平),可以同主機進行通信,。它外部有12條線同單片機相連,,即D0~D7、WRCS,、BUSY,、INT和GND。其中,,WRCS 為片選信號和寫信號邏輯或非,,上升沿有效;BUSY信號為高(CMOS電平)表示忙,;INT為中斷申請信號,,低電平有效。

單片機與智能化液晶接口電路圖

圖3 單片機與智能化液晶接口電路圖

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