從增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)到人工智能、云計(jì)算再到物聯(lián)網(wǎng)，5G正在燃爆新技術(shù)增長(zhǎng),，同時(shí)也在燃爆它們生成的數(shù)據(jù)量。數(shù)據(jù)量越來(lái)越大,，隨之而來(lái)的是存儲(chǔ)和快速訪問(wèn)需求,，DDR5之類(lèi)的技術(shù)變得空前重要。數(shù)據(jù)中心需要持續(xù)存儲(chǔ),、傳送和處理這些數(shù)據(jù),，推動(dòng)著高速信令的極限，也給內(nèi)存帶來(lái)了前所未有的測(cè)試挑戰(zhàn)。

具體有哪些變化,？DDR5與DDR4差別很大,，實(shí)際上更像LPDDR4，DDR5帶來(lái)9個(gè)變化,。

1. 速度更快,！第一個(gè)，也是最重要的一個(gè),，數(shù)據(jù)速率達(dá)到6.4 Gbps,，而DDR4最高只有3.2Gbps。規(guī)范中還有一條,，在未來(lái)幾年內(nèi)把速度上限推高到8 Gbps以上,。通道結(jié)構(gòu)與LPDDR4類(lèi)似，ECC中也有兩條獨(dú)立的40位通道,。還有更高的預(yù)讀取,、更高的突發(fā)長(zhǎng)度和更高的行列組，這些都提高了效率,，實(shí)現(xiàn)了高速模式,。

2. DDR5帶來(lái)的另一大變化是寫(xiě)入不再居中。DQS和DQ之間有固定的偏置,，因此我們不能只在示波器上測(cè)量DQS和DQ之間的延遲,，以推算出是讀還是寫(xiě)。不再這么容易了,！讀寫(xiě)突發(fā)分隔都將變得更加復(fù)雜,。

3. 新的時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)量。DDR5引入了Rj,、Dj和Tj測(cè)量,，代替了周期和周期間抖動(dòng)測(cè)量。Rj指標(biāo)在最大數(shù)據(jù)速率下變得非常緊,。優(yōu)秀的信號(hào)完整性對(duì)滿懷信心地測(cè)量這些參數(shù)變得至關(guān)重要,。

4. 反嵌在更高的DDR5數(shù)據(jù)速率下將變得非常關(guān)鍵。反嵌是一種移除探頭和內(nèi)插器負(fù)載的技術(shù),。它還用來(lái)把探測(cè)點(diǎn)以虛擬方式從DRAM球移到DRAM芯片,，以使反射達(dá)到最小。我們想看到Rx看到的是什么,。為成功地創(chuàng)建反嵌濾波器文件或傳遞函數(shù),，要求s-par文件，而且數(shù)量很多,。想法是在SOC封裝,、電路板模型,、DRAM封裝、內(nèi)插器,、探頭及IO設(shè)置中使用s-par模型,，比如Tx驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度和Rx ODT (如有)，盡可能如實(shí)模擬DDR通道,。如果沒(méi)有s-par模型,，還可以使用簡(jiǎn)單的傳輸線參數(shù)，如傳播延遲和特性阻抗,，這通過(guò)在示波器屏幕上測(cè)量反射來(lái)實(shí)現(xiàn),。

5. 我們將第一次在接收機(jī)中有Rx均衡、4階DFE,。DDR5提高了數(shù)據(jù)速率,，而不用把DQ總線遷移到差分信令，也就是說(shuō),，DQ總線仍是單端的,，與DDR3/4相同。然而,，內(nèi)存通道有大量的阻抗失配點(diǎn),，由于反射而提高了整體ISI。在數(shù)據(jù)速率超過(guò)4800 Mbps時(shí),，DRAM球的數(shù)據(jù)眼圖預(yù)計(jì)會(huì)閉合,。DDR5 DRAM Rx實(shí)現(xiàn)了4階DFE,，幫助均衡DQ信號(hào),，在接收機(jī)鎖存數(shù)據(jù)后張開(kāi)數(shù)據(jù)眼圖。此外,，RCD的CA Rx還需要DFE,，以確保可靠地捕獲信號(hào),。

6. DDR5另一個(gè)明顯變化是包括一條環(huán)回通道,。看一下DDR5的引腳圖,，您會(huì)發(fā)現(xiàn)專(zhuān)用的DQS/DQ環(huán)回引腳,。其用來(lái)實(shí)現(xiàn)獨(dú)立DRAM RX/TX表征。環(huán)回通道至關(guān)重要,。事實(shí)上,，我們正是通過(guò)環(huán)回通道，才知道接收機(jī)真正實(shí)時(shí)做了哪些位決策,。它是所有不同接收機(jī)之間共享的一條單線,，由于信號(hào)完整性差及其他原因,，我們只能發(fā)回每第四個(gè)位或每第二個(gè)位，所以有充足的時(shí)間,，能夠確保外部接收機(jī)或誤碼檢測(cè)器能夠以100%準(zhǔn)確度校驗(yàn)片上Rx的質(zhì)量,。

7. DDR5需要使用BERT和/或通用碼型發(fā)生器進(jìn)行獨(dú)立DRAM Rx/Tx測(cè)試。這要求一套全新測(cè)試,，包括電壓和頻率靈敏度及壓力眼圖測(cè)試,，DDR3/4中是沒(méi)有這些測(cè)試的。概念很簡(jiǎn)單,，任何人都應(yīng)能夠使用標(biāo)準(zhǔn)化JEDEC夾具,，根據(jù)JEDEC規(guī)定的測(cè)試程序，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,，確定DRAM Rx/TX的健康狀況,。

8. 準(zhǔn)確的壓力校準(zhǔn)將成為DDR5 RX測(cè)試中的大問(wèn)題，而且要獲得準(zhǔn)確的S參數(shù)模型,，這兩者都必須進(jìn)行估算并測(cè)量,，包括所有段。另一個(gè)關(guān)鍵特性是能夠準(zhǔn)確地或很好地猜出測(cè)量深度及示波器記錄長(zhǎng)度,，這樣就不會(huì)浪費(fèi)太多的時(shí)間,。

9. DRAM Rx/Tx測(cè)試將面臨巨大的數(shù)據(jù)庫(kù)管理問(wèn)題。數(shù)量龐大的s-par文件,、反嵌模型和測(cè)量結(jié)果的自動(dòng)化和管理,，將變成一個(gè)噩夢(mèng)。想象一下,，不同廠商多種DIMM配置,，以不同速度等級(jí)測(cè)試80多個(gè)引腳，這將非常非常困難,。

與DDR3/4相比,，DDR5改善了帶寬、密度和通道效率,。但數(shù)據(jù)傳送速率越高,，信號(hào)速度越快，要求一致性測(cè)試,、調(diào)試和驗(yàn)證的測(cè)量性能越高,。泰克科技去年7月推出TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案，其改善了自動(dòng)化程度,，工程師可以克服各種DFE所帶來(lái)的分析挑戰(zhàn),，采用用戶自定義采集和DDR5去嵌技術(shù)及串行數(shù)據(jù)鏈路分析(SDLA)技術(shù)，滿懷信心地,、高效地驗(yàn)證和調(diào)試DDR5設(shè)計(jì),。了解DDR5固有的差異有助于高效檢驗(yàn)和調(diào)試,。