如果有人跟你說:“嗨,,我做的芯片實(shí)現(xiàn)了100%自主可控,!”等等,,你先不急著崇拜(相信)他,,請看完此文再說…
首先,什么叫自主可控,,最直觀的理解就是當(dāng)別人“卡脖子”的時候不會被卡住,。集成電路產(chǎn)業(yè)通常被分為芯片設(shè)計、芯片制造,、封裝測試三大領(lǐng)域,,參看下圖:
我們逐一進(jìn)行分析,芯片設(shè)計主要從EDA,、IP,、設(shè)計三個方面來分析;芯片制造主要從設(shè)備,、工藝和材料三個方面來分析,;封裝測試則從封裝設(shè)計、產(chǎn)品封裝和芯片測試幾方面來分析,。
01
芯 片 設(shè) 計
如何開始一款芯片設(shè)計呢,?
首先要有工具(EDA),然后借助現(xiàn)有的資源(IP),,加上自己的構(gòu)思和規(guī)劃就可以開始芯片設(shè)計了,。這里,我們就從芯片設(shè)計工具EDA,知識產(chǎn)權(quán)IP,,以及集成電路的設(shè)計流程來分析芯片設(shè)計,。
1.1 EDA
EDA(Electronic Design Automation)電子設(shè)計自動化,常指代用于電子設(shè)計的軟件,。
曾經(jīng)有人跟我說:“EDA有啥呀,,不就是個工具嘛?”是啊,,確實(shí)就是個工具,,可是沒這個工具,你啥也設(shè)計不了??!
現(xiàn)在的大規(guī)模集成電路在芝麻粒大小的1平方毫米內(nèi)可以集成1億只以上的晶體管,這些晶體管之間的連接網(wǎng)絡(luò)更是多達(dá)數(shù)億個,。當(dāng)今主流的SoC芯片,,其晶體管數(shù)量已經(jīng)超過百億量級。如果沒有精準(zhǔn)的,,功能強(qiáng)大的EDA工具,,怎么設(shè)計呢?
EDA是芯片設(shè)計的必備工具,,目前,,Synopsys、Cadence和Mentor(Siemens EDA)占據(jù)著超過90%以上的市場份額,。在10納米以下的高端芯片設(shè)計上,,其占有率甚至高達(dá)100%。也就是說,,現(xiàn)在研發(fā)一款10nm以下的芯片,,沒有以上三家的EDA工具幾乎是不可能實(shí)現(xiàn)的。
下表所示是目前芯片設(shè)計中主流的EDA工具:
芯片設(shè)計分為設(shè)計,、仿真,、驗(yàn)證等環(huán)節(jié),對應(yīng)的EDA工具分為設(shè)計工具,、仿真工具,、驗(yàn)證工具等。設(shè)計工具解決的是模型的構(gòu)建,,也就是從0到1(從無到有)的問題,,仿真和驗(yàn)證工具解決模型的確認(rèn),也就是1是1還是0.9或者1.1的問題,。因此,,從EDA開發(fā)的角度,,設(shè)計工具的開發(fā)難度更大。此外,,設(shè)計規(guī)模越大,,工藝節(jié)點(diǎn)要求越高,EDA工具的開發(fā)難度也越大,。國產(chǎn)EDA工具目前在一些仿真驗(yàn)證點(diǎn)工具上取得一些成績,,在模擬電路設(shè)計方面也初步具備了全流程工具,但在大規(guī)模集成電路設(shè)計上和三大廠商還有很大的差距,,尤其在高端數(shù)字芯片設(shè)計流程上基本還是空白,。
1.2 IP
IP(Intelligent Property)代表著知識產(chǎn)權(quán)的意思,在業(yè)界是指一種事先定義,、經(jīng)過驗(yàn)證的,、可以重復(fù)使用,能完成特定功能的模塊,,IP是構(gòu)成大規(guī)模集成電路的基礎(chǔ)單元,,SoC甚至可以說是基于IP核的復(fù)用技術(shù)。IP一般分為硬核,、軟核和固核,。IP硬核一般已經(jīng)映射到特定工藝,經(jīng)過芯片制造驗(yàn)證,,具有面積和性能可預(yù)測的特點(diǎn),,但靈活性較小,;IP軟核以HDL形式提交,,靈活性強(qiáng),但性能方面具有不可預(yù)測性,;IP固核通過布局布線或利用通用工藝庫,對性能和面積進(jìn)行了優(yōu)化,,比硬核靈活,,比軟核在性能和面積上更可預(yù)測,是硬核和軟核的折中,。
下表為目前全球前10大IP提供商,,可以看到中國有兩家入圍前十,但是兩家市場份額加起來也僅有3%,,而ARM一家就占據(jù)了40%以上的市場份額,,美國的企業(yè)則占據(jù)了30%的市場份額,如果ARM被英偉達(dá)收購,,基本上IP市場就是美國的天下了,。此外我們也發(fā)現(xiàn),,全球最大的兩家EDA公司Synopsys和Cadence,在IP領(lǐng)域也同樣占據(jù)的第二,、第三的位置,。
下圖所示為IP的種類,其中處理器占51%,,接口IP占22.1%,,數(shù)字類占8.1%,其他占18.8%,,處理器類ARM一家獨(dú)大,,在接口類IP中,Synopsys是業(yè)界領(lǐng)導(dǎo)者,。
我們需要考慮的是,,在設(shè)計的芯片中那些IP是自主設(shè)計的,那些是外購的,,這些外購的IP是否存在不可控因素,?如果你設(shè)計的SoC僅僅是把別人的IP打包整合,那自主可控性就要大打折扣了,。
下面,,我們以華為麒麟980為例,了解一下芯片研發(fā)中的IP使用情況,。
麒麟980芯片集成的主要部件有CPU,、GPU(俗稱顯卡)、ISP(處理拍照數(shù)據(jù)),、NPU(人工智能引擎)和基帶(負(fù)責(zé)通信),。
根據(jù)華為官方資料,ISP是華為自研,,NPU是華為和寒武紀(jì)合作的成果,,至于CPU(Cortex-A76)和GPU(Mali-G76)則是華為向ARM公司購買的授權(quán),包括指令集授權(quán)和內(nèi)核授權(quán),。
如果沒有IP授權(quán),,還有沒有可能自研麒麟980芯片,目前看來,,沒有 ,。
1.3 設(shè)計流程
芯片設(shè)計流程通常可分為:數(shù)字IC設(shè)計流程和模擬IC設(shè)計流程,。
數(shù)字IC設(shè)計流程:芯片定義 → 邏輯設(shè)計 → 邏輯綜合 → 物理設(shè)計 → 物理驗(yàn)證 → 版圖交付,。
芯片定義(Specification)是指根據(jù)需求制定芯片的功能和性能指標(biāo),完成設(shè)計規(guī)格文檔,。
邏輯設(shè)計(Logic Design)是指基于硬件描述語言在RTL(Register-Transfer Level)級實(shí)現(xiàn)邏輯設(shè)計,,并通過邏輯驗(yàn)證或者形式驗(yàn)證等驗(yàn)證功能正確,。
邏輯綜合(Logic Synthesis)是指將RTL轉(zhuǎn)換成特定目標(biāo)的門級網(wǎng)表,并優(yōu)化網(wǎng)表延時,、面積和功耗,。
物理設(shè)計(Physical Design)是指將門級網(wǎng)表根據(jù)約束布局、布線并最終生成版圖的過程,,其中又包含:數(shù)據(jù)導(dǎo)入 → 布局規(guī)劃 → 單元布局 → 時鐘樹綜合 → 布線,。
數(shù)據(jù)導(dǎo)入是指導(dǎo)入綜合后的網(wǎng)表和時序約束的腳本文件,以及代工廠提供的庫文件,。
布局規(guī)劃是指在芯片上規(guī)劃輸入/輸出單元,,宏單元及其他主要模塊位置的過程。
單元布局是根據(jù)網(wǎng)表和時序約束自動放置標(biāo)準(zhǔn)單元的過程,。
時鐘樹綜合是指插入時鐘緩沖器,,生成時鐘網(wǎng)絡(luò),最小化時鐘延遲和偏差的過程,。
布線是指在滿足布線層數(shù)限制,,線寬、線間距等約束條件下,,根據(jù)電路關(guān)系自動連接各個單元的過程,。
物理驗(yàn)證(Physical Verificaiton)通常包括版圖設(shè)計規(guī)則檢查(DRC),版圖原理圖一致性檢查(LVS)和電氣規(guī)則檢查(ERC)等,。
版圖交付(Tape Out)是在所有檢查和驗(yàn)證都正確無誤的前提下,,傳遞版圖文件給代工廠生成掩膜圖形,并生產(chǎn)芯片,。
模擬IC設(shè)計流程:芯片定義 → 電路設(shè)計 → 版圖設(shè)計 → 版圖驗(yàn)證 → 版圖交付,。
其中芯片定義和版圖交付和數(shù)字電路相同,模擬IC在電路設(shè)計,、版圖設(shè)計,、版圖驗(yàn)證和數(shù)字電路有所不同。
模擬電路設(shè)計是指根據(jù)系統(tǒng)需求,,設(shè)計晶體管級的模擬電路結(jié)構(gòu),,并采用SPICE等仿真工具驗(yàn)證電路的功能和性能。
模擬版圖設(shè)計是按照設(shè)計規(guī)則,,繪制電路圖對應(yīng)的版圖幾何圖形,并仿真版圖的功能和性能,。
模擬版圖驗(yàn)證是驗(yàn)證版圖的工藝規(guī)則,、電氣規(guī)則以及版圖電路圖一致性檢查等。
這里,,我們做一個簡單的總結(jié):
芯片設(shè)計:就是在EDA工具的支持下,,通過購買IP授權(quán)+自主研發(fā)(合作開發(fā))的IP,,并遵循嚴(yán)格的集成電路設(shè)計仿真驗(yàn)證流程,完成芯片設(shè)計的整個過程,。在這個過程中,,EDA、IP,、嚴(yán)格的設(shè)計流程三者缺一不可,。
目前看來,在這三要素中最先可能實(shí)現(xiàn)自主可控的就是設(shè)計流程了,。
下表列出了當(dāng)前世界前10的芯片設(shè)計公司,,供大家參考。
02
芯 片 制 造
芯片制造目前是集成電路產(chǎn)業(yè)門檻最高的行業(yè),,怎么看待門檻的高低呢,,投資越高、玩家越少就表明門檻越高,,目前在高端芯片的制造上也僅剩下臺積電(TSMC),、三星(SAMSUNG)和英特爾(Intel)三家了。下面,,我們分別從設(shè)備,、工藝和材料三個方面來分析芯片制造,尋找我們和先進(jìn)制造技術(shù)的差距,。
2.1 設(shè)備
芯片制造需要經(jīng)過兩千多道工藝制程才能完成,,每個步驟都要依賴特定設(shè)備才能實(shí)現(xiàn)。
芯片制造中,,有三大關(guān)鍵工序:光刻,、刻蝕、沉積,。三大工序在生產(chǎn)過程中不斷重復(fù)循環(huán),,最終制造出合格的芯片。
三大關(guān)鍵工序要用到三種關(guān)鍵設(shè)備,,分別是光刻機(jī),、刻蝕機(jī)、薄膜沉積設(shè)備,。三大設(shè)備占所有設(shè)備投入的22%,、22%、20%左右,,是三種占比最高的半導(dǎo)體設(shè)備,。
下面就以最為典型的光刻機(jī)和刻蝕機(jī)為例進(jìn)行介紹并分析自主可控。
光刻機(jī)
光刻機(jī)的原理其實(shí)像幻燈機(jī)一樣,就是把光通過帶電路圖的掩膜(也叫光罩)Mask投影到涂有光刻膠的晶圓上,。60年代末,,日本尼康和佳能開始進(jìn)入這個領(lǐng)域,當(dāng)時的光刻機(jī)并不比照相機(jī)復(fù)雜多少,。
為了實(shí)現(xiàn)摩爾定律,,光刻技術(shù)需要每兩年把曝光關(guān)鍵尺寸(CD)降低30%-50%。需要不斷降低光刻機(jī)的波長λ,。然而,,波長被卡在193nm無法進(jìn)步長達(dá)20年。后來通過工程上最簡單的方法解決,,在晶圓光刻膠上方加1mm厚的水,,把193nm的波長折射成134nm,稱為浸入式光刻,。
浸入式光刻成功翻越了157nm大關(guān),,加上后來不斷改進(jìn)的鏡頭、多光罩,、Pitch-split,、波段靈敏光刻膠等技術(shù),浸入式193nm光刻機(jī)一直可以做到今天的7nm芯片(蘋果A12和華為麒麟980),。
EVU光刻機(jī)
EUV極紫外光刻(Extreme Ultra-Violet)是一種使用極紫外(EUV)波長的新一代光刻技術(shù),,其波長為13.5納米。由于光刻精度是幾納米,,EUV對光的集中度要求極高,,相當(dāng)于拿個手電照到月球光斑不超過一枚硬幣。反射的鏡子要求長30cm起伏不到0.3nm,,相當(dāng)于北京到上海的鐵軌起伏不超過1毫米,。一臺EUV光刻機(jī)重達(dá)180噸,超過10萬個零件,,需要40個集裝箱運(yùn)輸,,安裝調(diào)試要超過一年時間。
2000年時,,日本尼康還是光刻機(jī)領(lǐng)域的老大,,到了2009年ASML已經(jīng)遙遙領(lǐng)先,市場占有率近7成,。目前,,最先進(jìn)的光刻機(jī)也只有ASML一家可以提供了。
國內(nèi)的情況,,上海微電子(SMEE)已經(jīng)有分辨率為90nm的光刻機(jī),,新的光刻機(jī)也在研制中。
在集成電路制造中,,光刻只是其中的一個環(huán)節(jié),,另外還有無數(shù)先進(jìn)科技用于前后道工藝中。
刻蝕機(jī)
刻蝕是將晶圓表面不必要的材質(zhì)去除的過程,??涛g工藝位于光刻之后。
光刻機(jī)用光將掩膜上的電路結(jié)構(gòu)復(fù)制到硅片上,,刻蝕機(jī)把復(fù)制到硅片上的電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行微雕,,雕刻出溝槽和接觸點(diǎn),讓線路能夠放進(jìn)去,。
按照刻蝕工藝分為干法刻蝕以及濕法刻蝕,,干法刻蝕主要利用反應(yīng)氣體與等離子體進(jìn)行刻蝕,濕法刻蝕工藝主要是將刻蝕材料浸泡在腐蝕液內(nèi)進(jìn)行刻蝕,。
干法刻蝕在半導(dǎo)體刻蝕中占據(jù)主流,,市場占比達(dá)到95%,其最大優(yōu)勢在于能夠?qū)崿F(xiàn)各向異性刻蝕,,即刻蝕時可控制僅垂直方向的材料被刻蝕,,而不影響橫向材料,從而保證細(xì)小圖形保真性,。濕法刻蝕由于刻蝕方向的不可控性,,在先進(jìn)制程很容易降低線寬,甚至破壞線路本身,,導(dǎo)致芯片品質(zhì)變差,。
目前普遍采用多重模板工藝原理,即通過多次沉積,、刻蝕工藝實(shí)現(xiàn)需要的特征尺寸,,例如14nm制程所需使用的刻蝕步驟達(dá)到64次,較 28nm提升60%,;7nm制程所需刻蝕步驟更是高達(dá)140次,,較14nm提升118%。
下圖所示為多次刻蝕原理,。
和光刻機(jī)一樣,,刻蝕機(jī)的廠商也相對較少,代表企業(yè)主要是美國的 Lam Research(泛林半導(dǎo)體),、AMAT(應(yīng)用材料),、日本的TEL(東京電子)等企業(yè)。這三家企業(yè)占據(jù)全球半導(dǎo)體刻蝕機(jī)的94%的市場份額,,而其他參與者合計僅占6%,。其中,Lam Research 占比高達(dá)55%,為行業(yè)龍頭,,東京電子與應(yīng)用材料分別占比20%和19%,。
國內(nèi)的情況,目前刻蝕設(shè)備代表公司為中微公司,、北方華創(chuàng)等,。中微公司較為領(lǐng)先,工藝節(jié)點(diǎn)已經(jīng)達(dá)到5nm,。在全球前十大晶圓企業(yè)中,,中微公司已經(jīng)進(jìn)入其中六家,作為臺積電的合作伙伴協(xié)同驗(yàn)證14nm/7nm/5nm等先進(jìn)工藝,。
基于此,,如果目前在光刻機(jī)領(lǐng)域我們還無力做出改變,那么已經(jīng)有一定優(yōu)勢的刻蝕機(jī)勢必會成為國產(chǎn)替代的先鋒,。
2.2 工藝制程
芯片制造過程需要兩千多道工藝制程,,下面,我們按照8大步驟對芯片制造工藝進(jìn)行簡單介紹,。
1. 光刻(光學(xué)顯影)
光刻是經(jīng)過曝光和顯影程序,,把光罩上的圖形轉(zhuǎn)換到光刻膠下面的晶圓上。光刻主要包含感光膠涂布,、烘烤,、光罩對準(zhǔn)、 曝光和顯影等程序,。曝光方式包括:紫外線,、極紫外光、X射線,、電子束等,。
2. 刻蝕(蝕刻)
刻蝕是將材料使用化學(xué)反應(yīng)或物理撞擊作用而移除的技術(shù)。干刻蝕(dry etching)利用等離子體撞擊晶片表面所產(chǎn)生的物理作用,,或等離子體與晶片表面原子間的化學(xué)反應(yīng),,或者兩者的復(fù)合作用。濕刻蝕(wet etching)使用的是化學(xué)溶液,,經(jīng)過化學(xué)反應(yīng)達(dá)到刻蝕的目的,。
3. 化學(xué)氣相沉積(CVD)
CVD利用熱能、放電或紫外光照射等化學(xué)反應(yīng)的方式,,將反應(yīng)物在晶圓表面沉積形成穩(wěn)定固態(tài)薄膜(film)的一種沉積技術(shù),。CVD技術(shù)在芯片制程中運(yùn)用極為廣泛,如介電材料(dielectrics),、導(dǎo)體或半導(dǎo)體等材料都能用CVD技術(shù)完成,。
4. 物理氣相沉積(PVD)
PVD是物理制程而非化學(xué)制程,,一般使用氬等氣體,在真空中將氬離子加速以撞擊濺鍍靶材后,,可將靶材原子一個個濺擊出來,,并使被濺擊出來的材質(zhì)如雪片般沉積在晶圓表面。
5. 離子植入(Ion Implant)
離子植入可將摻雜物以離子型態(tài)植入半導(dǎo)體組件的特定區(qū)域上,,以獲得精確的電特性,。離子先被加速至足夠能量與速度,以穿透(植入)薄膜,,到達(dá)預(yù)定的植入深度。離子植入可對植入?yún)^(qū)內(nèi)的摻質(zhì)濃度加以精密控制,。
6. 化學(xué)機(jī)械研磨(CMP)
化學(xué)機(jī)械研磨技術(shù)具有研磨性物質(zhì)的機(jī)械式研磨與酸堿溶液的化學(xué)式研磨兩種作用,,可以使晶圓表面達(dá)到全面性的平坦化,以利后續(xù)薄膜沉積,。
7. 清洗
清洗的目的是去除金屬雜質(zhì),、有機(jī)物污染、微塵與自然氧化物,;降低表面粗糙度,;幾乎所有制程前后都需要清洗。
8. 晶片切割(Die Saw)
晶片切割是將加工完成的晶圓上一顆顆晶粒裸芯片(die)切割分離,,便于后續(xù)封裝測試,。
雖然不同的Foundry廠的流程大致相同,但不同的工藝控制能力造就了各廠家在先進(jìn)制程上的區(qū)別,,隨著制程進(jìn)入5nm,,能夠量產(chǎn)的芯片制造商就屈指可數(shù)了,目前能夠量產(chǎn)5nm芯片的只有TSMC和SAMSUNG,。兩千多道工藝制程中隱藏著Foundry的無窮的智慧和雄厚的財力,,并不是說有了先進(jìn)的設(shè)備,就能造出合格的芯片,。雖然先進(jìn)制程是技術(shù)發(fā)展的方向,,我們也不能忽視成熟制程。成熟制程依然有很大市場份額,。下圖是按成熟制程(節(jié)點(diǎn)≥40nm)產(chǎn)能排序的全球晶圓代工廠商Top榜單,。
可以看出,成熟制程產(chǎn)能排名前四的廠商分別為:臺積電(市占率28%),,聯(lián)電(13%),,中芯國際(11%),三星(10%),。成熟制程在2020年非?;鸨?,產(chǎn)能嚴(yán)重短缺,這給各大晶圓代工廠帶來了巨大的商機(jī),。而從2021年的產(chǎn)業(yè)發(fā)展形勢來看,,這種短缺狀況在近期內(nèi)還難以緩解。
2.3 材料
生產(chǎn)集成電路的材料有成千上萬種,,我們就以最為典型的硅晶圓和光刻膠進(jìn)行分析,。
硅晶圓
硅晶圓是集成電路行業(yè)的糧食,是最主要最基礎(chǔ)的集成電路材料,,90%以上的芯片在硅晶圓上制造,,目前300mm硅晶圓是芯片制造的主流材料,使用比例超過70%,。曾經(jīng),,我國300mm半導(dǎo)體硅片100%依賴進(jìn)口,是我國集成電路產(chǎn)業(yè)鏈建設(shè)與發(fā)展的主要瓶頸,。
全球主要的半導(dǎo)體硅晶圓供應(yīng)商包括日本信越化學(xué)(Shin-Estu),、日本盛高(SUMCO)、德國Siltronic,、韓國SK Siltron以及中國臺灣的環(huán)球晶圓,、合晶科技等公司。五大晶圓供貨商的全球市占率達(dá)到了92%,,其中日本信越化學(xué)占27%,,日本盛高占26%,臺灣環(huán)球晶圓占17%,,德國Silitronic占13%,,韓國SK Siltron占9%。
下表列出了全球10大硅晶圓提供商,,供參考,。
國內(nèi)的情況,中國大陸半導(dǎo)體硅晶圓銷售額年均復(fù)合增長率達(dá)到41.17%,,遠(yuǎn)高于同期全球半導(dǎo)體硅片市場的25.75%,。但這塊市場并沒有掌握在本土廠商手中,在打造國產(chǎn)化產(chǎn)業(yè)鏈的今天,,還有很大的空間供國內(nèi)晶圓制造商去發(fā)展,。
光刻膠
光刻膠是光刻過程最重要的耗材,光刻膠的質(zhì)量對光刻工藝有著重要影響,。光刻膠可分為半導(dǎo)體光刻膠,、面板光刻膠和PCB光刻膠。其中,,半導(dǎo)體光刻膠的技術(shù)壁壘最高,。
目前全球光刻膠主要企業(yè)有日本合成橡膠(JSR),、東京應(yīng)化(TOK)、信越化學(xué)(ShinEtsu),、富士電子(FUJI),、美國羅門哈斯(Rohm&Hass)等,市場集中度非常高,,所占市場份額超過85%,。
下圖顯示的是光刻膠企業(yè)的市場占有率。
高分辨率的半導(dǎo)體光刻膠是半導(dǎo)體化學(xué)品中技術(shù)壁壘最高的材料,,日美企業(yè)技術(shù)領(lǐng)先國內(nèi)企業(yè)二十年至三十年,。從光刻膠技術(shù)水平來看,國內(nèi)企業(yè)在缺乏經(jīng)驗(yàn),、缺乏專業(yè)技術(shù)人才,、缺失關(guān)鍵上游原材料和設(shè)備的條件下,探索出一條自主研發(fā)之路,,光刻膠高端技術(shù)短期內(nèi)尚難突破,還要很長的路要走,。在PCB領(lǐng)域,,國產(chǎn)光刻膠具備了一定的量產(chǎn)能力,已經(jīng)實(shí)現(xiàn)對主流廠商供貨,。
03
封 裝 測 試
封裝測試是集成電路三大產(chǎn)業(yè)中的最后一個環(huán)節(jié),。一般認(rèn)為封裝測試的技術(shù)含量和實(shí)現(xiàn)難度比前兩者低,但是隨著SiP及先進(jìn)封裝技術(shù)的出現(xiàn)和迅速發(fā)展,,需要重新定義芯片的封裝和測試,。
SiP及先進(jìn)封裝在封裝原來的三個特點(diǎn):芯片保護(hù)、尺度放大,、電氣連接的基礎(chǔ)上,,增加了三個新特點(diǎn):提升功能密度、縮短互聯(lián)長度,、進(jìn)行系統(tǒng)重構(gòu),,因此其復(fù)雜程度和實(shí)現(xiàn)難度與傳統(tǒng)的封裝相比有很大程度的提升。
同時,,SiP及先進(jìn)封裝也給封裝測試提出了新的機(jī)遇和挑戰(zhàn),。
3.1 芯片封裝
我們從封裝設(shè)計和產(chǎn)品封裝兩方面來分析芯片封裝。
1)封裝設(shè)計
早先的封裝中沒有集成(Integration)的概念,,封裝設(shè)計是比較簡單的,,對工具要求也很低,Auto CAD就是常用的封裝設(shè)計工具,,隨著MCM,、SiP技術(shù)的出現(xiàn),,封裝設(shè)計變得越來越復(fù)雜,加上目前SiP,、先進(jìn)封裝,、Chiplet、異構(gòu)集成概念的市場接受度越來越高,,封裝內(nèi)集成的復(fù)雜度和靈活度急劇上升,,對封裝設(shè)計的要求也越來越高,
SiP和先進(jìn)封裝設(shè)計工具目前只有Cadence和 Siemens EDA(Mentor)兩家,,Cadence是老牌的封裝設(shè)計EDA提供商,,市場占有率高,用戶的忠誠度也比較高,。
Siemens EDA(Mentor)是封裝設(shè)計領(lǐng)域的后起之秀,,但其技術(shù)先進(jìn)性上則體現(xiàn)了“后浪”的特點(diǎn)。業(yè)界大佬TSMC, Intel, SAMSUNG紛紛選擇Siemens EDA作為其先進(jìn)封裝(HDAP)的首選工具,,主要在于兩點(diǎn):先進(jìn)的設(shè)計工具和強(qiáng)悍的驗(yàn)證工具,。
首先我們說說設(shè)計工具,在一次技術(shù)論壇中,,我說:“不同于傳統(tǒng)封裝設(shè)計,,先進(jìn)封裝和SiP設(shè)計對3D環(huán)境要求很高,3D設(shè)計環(huán)境不在于是否看上去很直觀,、絢麗,,而在于對客觀元素的精準(zhǔn)描述,包括鍵合線,、腔體,、芯片堆疊、硅轉(zhuǎn)接板,、2.5D集成,、3D集成,Bump…”
在這一點(diǎn)上,,Siemens EDA的SiP及先進(jìn)封裝設(shè)計工具已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)將其競爭對手拋在身后,。下圖為先進(jìn)封裝版圖設(shè)計工具XPD中的封裝設(shè)計3D截圖,4組芯片堆疊中,,每組5顆芯片(4HBM+1Logic)以3D TSV連接在一起,,和GPU一起集成在硅轉(zhuǎn)接板(2.5D TSV)上,硅轉(zhuǎn)接板和電阻,、電容等一起集成在封裝基板上,。
XPD中的先進(jìn)封裝設(shè)計截圖(3D)
該設(shè)計中包含了3D集成、2.5D集成,、倒裝焊,、Bump,、多基板集成等多種方式,在XPD設(shè)計環(huán)境中得到了精準(zhǔn)的實(shí)現(xiàn),。
先進(jìn)封裝驗(yàn)證工具包括電氣驗(yàn)證和物理驗(yàn)證,,電氣驗(yàn)證包含80多條規(guī)則,對整個系統(tǒng)進(jìn)行信號完整性,、電源完整性,、EMI\EMC等電氣相關(guān)的檢查和驗(yàn)證,物理驗(yàn)證則是基于IC驗(yàn)證工具Calibre,,整合出Calibre 3D STACK,,專門用于3D先進(jìn)封裝的物理驗(yàn)證。
隨著封裝內(nèi)的集成度,、設(shè)計復(fù)雜度越來越高,,對工具的要求也越來越高,另外,,在先進(jìn)封裝領(lǐng)域,,封裝設(shè)計和芯片設(shè)計的協(xié)同度日益提高,在某種程度上有逐漸融合的趨勢,,因此對協(xié)同設(shè)計的要求也日益提升,。
關(guān)于SiP、微系統(tǒng),、先進(jìn)封裝的詳細(xì)設(shè)計方法和實(shí)際案例,可參考電子工業(yè)出版社近期即將出版的新書:《基于SiP技術(shù)的微系統(tǒng)》
2)產(chǎn)品封裝
根據(jù)材料和工藝不同,,封裝可以分為塑料封裝,、陶瓷封裝和金屬封裝三種類型。
塑封主要基于有機(jī)基板,,多應(yīng)用于商業(yè)級產(chǎn)品,,體積小、重量輕,、價格便宜,,具有大批量、低成本優(yōu)勢,,但在芯片散熱,、穩(wěn)定性、氣密性方面相對較差,。
陶瓷封裝和金屬封裝則主要基于陶瓷基板,,陶瓷封裝一般采用HTCC基板,金屬封裝則多采用LTCC基板,,對于大功耗產(chǎn)品,,散熱要求高,,可選用氮化鋁基板。
陶瓷封裝特點(diǎn)包括:密封性好,,散熱性能良好,,對極限溫度的抵抗性好,容易拆解,,便于問題分析,;和金屬封裝相比體積相對小,適合大規(guī)模復(fù)雜芯片,,適合航空航天等對氣密性有要求的嚴(yán)苛環(huán)境應(yīng)用,;但價格昂貴,生產(chǎn)周期長,,重量和體積都比同類塑封產(chǎn)品大,。
金屬封裝特點(diǎn)包括:密封性好,散熱性能良好,,容易拆解,,靈活性高;但體積相對較大,,引腳數(shù)量較少,,不適合復(fù)雜芯片,價格貴,,生產(chǎn)周期長,,需要組裝金屬外殼和基板,工序復(fù)雜,,多應(yīng)用于MCM設(shè)計,,航空航天領(lǐng)域應(yīng)用較為普遍。
陶瓷封裝和金屬封裝內(nèi)部均為空腔結(jié)構(gòu),,具有可拆解的優(yōu)勢,,便于故障查找和問題“歸零”, 因此受到航空航天等領(lǐng)域用戶的歡迎,。
3.2 芯片測試
芯片測試的項目非常多,,這里我們重點(diǎn)了解一下機(jī)臺測試的系統(tǒng)測試。
機(jī)臺測試
一般是指采用ATE(Automatic Test Equipment)自動測試設(shè)備來進(jìn)行芯片測試,,測試芯片的基本功能和相應(yīng)的電參數(shù),。機(jī)臺可以提供待測器件DUT(Device Under Test)所需的電源、不同周期和時序的波形,、驅(qū)動電平等,。測試向量(Test Vector)是每個時鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測試的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù),是由帶定時特性和電平特性的波形代表,與波形形狀,、脈沖寬度,、脈沖邊緣或斜率以及上升沿和下降沿的位置都有關(guān)系。
測試向量可基于EDA工具的仿真向量(包含輸入信號和期望的輸出),,經(jīng)過優(yōu)化和轉(zhuǎn)換,,形成ATE格式的測試向量。利用EDA工具建立器件模型,,通過建立一個Testbench仿真驗(yàn)證平臺,,對其提供測試激勵,進(jìn)行仿真,,驗(yàn)證結(jié)果,,將輸入激勵和輸出響應(yīng)存儲,按照ATE向量格式,,生成ATE向量文件,。
系統(tǒng)測試
系統(tǒng)測試也稱為板級系統(tǒng)測試,是指模擬芯片真實(shí)的工作環(huán)境,,對芯片進(jìn)行各種操作,,確認(rèn)其功能和性能是否正常。除了機(jī)臺測試和系統(tǒng)測試之外,,還需要對芯片進(jìn)行了一系列的試驗(yàn)和考核,,內(nèi)容包括:熱沖擊、溫度循環(huán),、機(jī)械沖擊,、掃頻震動、恒定加速度,、鍵合強(qiáng)度,、芯片剪切強(qiáng)度、穩(wěn)態(tài)壽命,、密封、內(nèi)部水汽含量,、耐濕氣等試驗(yàn),。只有所有的測試都順利通過了,一顆芯片才能算成功,,作為合格的產(chǎn)品應(yīng)用到下一個環(huán)節(jié),。
自主可控總結(jié)
最后,結(jié)合下面表格,,我們對自主可控作一個簡單總結(jié),。
從表格可以看出,我們在IC設(shè)計流程、封裝(SiP)設(shè)計,,以及在產(chǎn)品封裝,、芯片測試環(huán)節(jié)的自主可控程度比較高;在刻蝕機(jī),、芯片工藝制程上有一定的自主可控性,,而在EDA,IP,,光刻機(jī),,硅晶元,光刻膠等環(huán)節(jié)自主可控的程度非常低,,所以高端芯片很容易被“卡脖子”,,因?yàn)楦叨诵酒玫降腅DA,IP,,光刻機(jī),,硅晶元,光刻膠幾乎全部依賴進(jìn)口,。
自主可控相對較高的IC設(shè)計流程,、封裝(SiP)設(shè)計也幾乎全部依賴進(jìn)口的EDA工具,在產(chǎn)品封裝和芯片測試環(huán)節(jié),,封裝設(shè)備和測試設(shè)備大約80%以上是進(jìn)口設(shè)備,;工藝制程上高端芯片同樣也無法自主生產(chǎn)??紤]到這些,,不由得讓我們無法盲目樂觀,因?yàn)樵酵搭^挖掘,,自主可控的比例就越低,。
當(dāng)別人不卡脖子的時候,不要趾高氣揚(yáng),,似乎一切盡在掌控,;當(dāng)別人卡脖子的時候,不要突然發(fā)現(xiàn),,竟然全身上下都是脖子,!
看完此文,如果以后有人告訴你,,他做的芯片實(shí)現(xiàn)了100%的自主可控,,我們就可以從上面的環(huán)節(jié)逐個去分析,一顆芯片從最初的構(gòu)思到最終的產(chǎn)品,,所經(jīng)歷的過程中,,那些環(huán)節(jié)真正是自主可控的?那些環(huán)節(jié)依然是要被卡脖子的?
只有真正認(rèn)識到自身的不足,,實(shí)事求是,,踏踏實(shí)實(shí),一步一個腳印,,并持之以恒,,才能在激烈的競爭中不致落后,從而減少卡脖子事件的發(fā)生,!
另外,,即使世界出現(xiàn)了諸多不和諧,甚至在某些方面矛盾有激化的可能,,但從長遠(yuǎn)來看,,合作依然是人類文明的主流,我們依然要向著這個方向去看,,去努力奮斗,!