近日，全球領先的測試測量廠商NI（National Instruments）宣布與上海孤波科技有限公司（簡稱孤波）,、上海韋爾半導體股份有限公司（簡稱韋爾半導體）達成合作,。孤波借助NI開放的LabVIEW平臺和模塊化的PXI硬件,，開發(fā)出滿足韋爾半導體射頻芯片產品的測試方案，幫助韋爾半導體建立從實驗室驗證到量產的標準化測試流程,，加速產品上市時間,。

　　2020年新基建的提出，加速了各領域的智能化升級,，受應用端的驅動,，芯片行業(yè)迎來了新的發(fā)展期。在此背景下,，NI,、孤波和韋爾半導體三方的合作對于推動半導體行業(yè)創(chuàng)新具有重要意義。韋爾半導體作為專注于半導體器件的設計和銷售公司,，面臨著將產品迭代速度快,，上市時間縮短的挑戰(zhàn),。未來，三方將共同探索,，攜手打造高效的芯片測試模式,，致力于優(yōu)化測試流程、縮短測試時間,、降低測試成本。

　　作為致力于開發(fā)標準的半導體自動化驗證,、測試軟件平臺的創(chuàng)新者,，孤波將與NI共同推進測試測量標準化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。上海孤波科技有限公司總經理周浩表示：“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的軟件平臺SIVA,，結合NI的PXI和客戶自有的第三方臺式儀表,，為客戶打造跨產品線，跨office,，甚至跨BU的測試統一服務,，統一測試標準，從而提高測試效率,，加速客戶的產品開發(fā)和量產進程,。”

　　上海韋爾半導體股份有限公司副總裁紀剛指出：“在NI的開放的PXI架構和孤波易用的SIVA軟件的幫助下,，韋爾半導體實現了多條產品線從實驗室驗證到量產的測試標準化和平臺復用,，極大地降低了測試成本，提升了測試效率,，從而幫助我們加快產品的迭代速度,，更好地應對快速的市場變化?！?/p>

　　芯片越來越復雜,，而芯片從研發(fā)到量產的周期卻越來越短，如何實現從實驗室到量產整個環(huán)節(jié)的全面與快速驗證,，是工程師們面臨的一個重大挑戰(zhàn),。傳統的測試方法無法應對現在的挑戰(zhàn)，為滿足日益復雜的測試需求,，有效控制成本和測試時間,，工程師需要現代化芯片測試（Modern Lab)方法，即基于標準化,、高效的芯片實驗室運營流程方法,。

　　NI 亞太區(qū)銷售總監(jiān)陳健忠強調：“Modern Lab的概念由NI首次提出，NI致力于將Modern Lab的理念帶入中國,，幫助中國客戶建立這套標準化的測試流程,，在芯片測試過程中建立標準和可遷移的架構,，幫助廠商實現在不同地區(qū)標準測試臺的部署和協同運營，同時為未來新技術的研發(fā)提供充分的靈活性,?！?img src="http://img.chinaaet.com/images/2020/05/28/6372627842267965723078427.jpg" title="2.jpg" alt="2.jpg" width="544" height="377"/>

　　測試貫穿于芯片產業(yè)鏈的每個環(huán)節(jié)，隨著芯片產品多樣性和復雜性的增長,，基于現代化的測試方法打造測試系統非常必要,。NI和孤波將發(fā)揮各自獨特的優(yōu)勢，幫助韋爾半導體占領市場先機,。