新聞要點(diǎn)：

 ·是德科技P9000已是業(yè)界最快,、功能最全的半導(dǎo)體參數(shù)測試解決方案,，用于高級邏輯和記憶集成電路的研發(fā)和批量生產(chǎn)

·第三代P9000憑借全新的參數(shù)測試單元模塊，可進(jìn)一步提升測試速度,，同時克服電容測量所面臨的挑戰(zhàn)

·這款全新的測試單元模塊可測量尖端半導(dǎo)體電子過程中的泄漏電容,，并提供 100 引腳并行電容測量結(jié)果

 2018 年 1 月 23 日，北京 – 是德科技（紐約證券交易所代碼：KEYS）近日宣布推出其第三代P9000 系列大規(guī)模并行參數(shù)測試系統(tǒng),。該系統(tǒng)不僅可加速新技術(shù)的快速發(fā)展,，更降低了高級半導(dǎo)體邏輯和記憶集成電路開發(fā)和制造過程中的測試成本。例如,，隨著新型器件結(jié)構(gòu)和性能的提高,，每個先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)（小于或等于 20 納米）的必要參數(shù)測試數(shù)據(jù)量將急劇增加。

 P9000 推出后,，可利用專門的引腳測試單元模塊,，為硅晶圓上的多個器件提供 100 引腳并行測量值。該模塊具備參數(shù)（例如,，電壓,、電流、電容,、脈沖和頻率）測試所需的全部典型測試功能,。此外，直接電荷測量（DCM）技術(shù)可實(shí)現(xiàn)快速的 100 引腳并行電容測試,。

 第二代 P9000 搭載是德科技開發(fā)的快速Vt測量技術(shù),。快速Vt測量技術(shù)提供閾值電壓（Vt）的單一測量值,，其速度比任何常規(guī)測試方法要快四倍以上,。除了 100 引腳并行測量外，DCM 和快速Vt 測量技術(shù)可提供更快的單一參數(shù)測量值,，從而進(jìn)一步提升測試速度,。因此，先進(jìn)的芯片代工廠和存儲器公司現(xiàn)已采用 P9000 平臺（第一代和第二代）作為下一代參數(shù)測試解決方案,。

 隨著第三代 P9000 的推出,，其采用全新引腳參數(shù)測試模塊（是德科技 P9015A）,，測試器可進(jìn)一步縮短電容測量的時間，從而解決了因多層互連和新器件結(jié)構(gòu)導(dǎo)致電容測試量日益增加的難題,。該全新模塊利用其增強(qiáng)型 DCM技術(shù)來測量漏電電容,，相比傳統(tǒng) LCR 測試器，其可在各類電容間建立良好的數(shù)據(jù)相關(guān)性,，使單一電容測試速度提升兩倍以上,。另外，憑借 100 引腳并行電容測量能力,，客戶可進(jìn)一步提高吞吐量,。

 是德科技晶圓測試解決方案副總裁兼總經(jīng)理 Masaki Yamamoto表示：“許多半導(dǎo)體公司已將數(shù)以百計(jì)的 P9000 用于研發(fā)和生產(chǎn)，例如,，先進(jìn)的邏輯芯片和內(nèi)存制造,。” “是德科技將繼續(xù)改進(jìn) P9000,，進(jìn)一步降低客戶的上市時間,，同時降低測試成本。 第三代 P9000 采用 100 引腳“真”參數(shù)引腳模塊,，甚至具備傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中使用的測試結(jié)構(gòu),，為客戶帶來了疾速的并行參數(shù)測試解決方案。

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是德科技是一家領(lǐng)先的技術(shù)公司,，致力于幫助工程、企業(yè)和服務(wù)提供商客戶優(yōu)化網(wǎng)絡(luò),，進(jìn)而將其電子產(chǎn)品以更低的成本,、更快地推向市場。從設(shè)計(jì)仿真到原型驗(yàn)證,、再到生產(chǎn)測試以及網(wǎng)絡(luò)和云環(huán)境的優(yōu)化,，是德科技提供了全方位電子信號測試與分析解決方案。我們的客戶遍及全球通信,、航空航天與國防,、汽車、能源,、半導(dǎo)體和通用電子終端市場,。2017 年 4 月，是德科技完成對 Ixia 的收購,。Ixia 公司在網(wǎng)絡(luò)測試,、可見性和安全解決方案領(lǐng)域具有十分雄厚的實(shí)力。更多信息,，請?jiān)L問 www.keysight.com,。