電解電容會隨時間而泄漏。圖1中的電路可以用來測試電容,，決定它們是否值得使用,。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試,，從1nF的陶瓷電容,，到1000μF的電解電容。電路中,，CREF的值接近于待測電容值CX,。另外也可以用旋轉(zhuǎn)切換的方法選擇RREF，使之大于或小于22 MΩ。

　　當(dāng)按鍵開關(guān)閉合時,，電容CREF與CX通過各自相應(yīng)的PNP晶體管充電,。當(dāng)開關(guān)打開時，這些電容開始放電,。CREF（假設(shè)處于良好狀況）有額外的放電外接電阻,。而待測電容CX則通過自己的內(nèi)阻放電。如果CX的泄漏大于CREF通過RREF的泄漏,，則CX電壓下降得更快,。于是，運放非反相輸入端的電壓會低于反相輸入端,，使運放輸出為低,，使紅色LED發(fā)光。這只LED用于表示被測電容有泄漏,。對電路的測試表明,，甚至1nF的陶瓷電容都能檢測。檢查測試電容的額定值,，確保其高于將充電的電壓值,，此時VSUPPLY 為-1.8V。

　　LF357的最低供電電壓為10V,，但測試只需要6V,，因此測試電容允許有一個低的上限電壓。要確認(rèn)電容有FET或MOSFET的輸入級,。