《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息微形變測量系統(tǒng)
基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息微形變測量系統(tǒng)
潘 鋒,,肖 文,,常君磊
摘要: 建立基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息干涉微形變測量系統(tǒng),,首先,,利用1×2單模光纖耦合器將激光源輸出光分為照明光和參考光,,實(shí)現(xiàn)光路結(jié)構(gòu)簡單、緊湊和穩(wěn)定性好,;然后,,通過短焦距和長焦距準(zhǔn)直透鏡分別對照明光和參考光進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,使得參物光強(qiáng)度接近1:1,,從而獲得高信噪比的數(shù)字全息圖,。利用基于數(shù)字全息的雙曝光方法對鋼板的波長量級微形變進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測量。通過全息記錄,、再現(xiàn)及相位解包裹得到高精度的測量結(jié)果,。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,建立的基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息微形變測量系統(tǒng)具有光路簡單,、穩(wěn)定性好等特點(diǎn),而且測量精度高,。
Abstract:
Key words :

摘要:建立基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息干涉微形變測量系統(tǒng),,首先,利用1×2單模光纖耦合器將激光源輸出光分為照明光和參考光,,實(shí)現(xiàn)光路結(jié)構(gòu)簡單,、緊湊和穩(wěn)定性好;然后,,通過短焦距和長焦距準(zhǔn)直透鏡分別對照明光和參考光進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,,使得參物光強(qiáng)度接近1:1,從而獲得高信噪比的數(shù)字全息圖,。利用基于數(shù)字全息的雙曝光方法對鋼板的波長量級微形變進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測量,。通過全息記錄、再現(xiàn)及相位解包裹得到高精度的測量結(jié)果,。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,,建立的基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息微形變測量系統(tǒng)具有光路簡單、穩(wěn)定性好等特點(diǎn),,而且測量精度高,。
關(guān)鍵詞:數(shù)字全息;光纖導(dǎo)光,;形變測量,;相位解包裹

0 引言
    數(shù)字全息采用光電探測器作為記錄介質(zhì),計(jì)算機(jī)模擬參考光進(jìn)行全息再現(xiàn),,可以獲取物光的振幅和相位信息,,重構(gòu)物體的三維形貌。該技術(shù)具有可處理相位信息,、高效自動(dòng)化,、實(shí)時(shí)測量、穩(wěn)定性高等諸多優(yōu)點(diǎn),近年來被廣泛研究和應(yīng)用,。特別在微形變測量領(lǐng)域,,數(shù)字全息方法作為一種相干測量方法,具有非接觸,、實(shí)時(shí)性,、高分辨率、全視場等特點(diǎn),,倍受眾多研究者關(guān)注,。雙曝光全息干涉法是典型的用于微形變測量的方法,其原理是將初始物光波面與變形以后的物光波面相比較,。在記錄過程中對形變物面作二次曝光,,一次記錄初始物光波的全息圖,一次記錄形變后物光波的全息圖,。用原參考光進(jìn)行全息再現(xiàn),,得到形變前后的兩物光波面相干產(chǎn)生條紋,通過分析條紋,,了解波面的變化信息,。目前,數(shù)字全息光路主要采用透鏡,、棱鏡,、波片以及空間濾波器等光學(xué)元件構(gòu)建相干成像光路,而這些分離光學(xué)元件穩(wěn)定性不高且體積大,,非常不利于測量系統(tǒng)的小型化,、穩(wěn)定性,大大限制了全息系統(tǒng)的實(shí)際測量應(yīng)用,。
    采用光纖波導(dǎo)替代全息光路中各種分立光學(xué)元件,,使系統(tǒng)更加緊湊、穩(wěn)定,,此外光纖可繞曲,、抗電磁、耐腐蝕的特點(diǎn),,使系統(tǒng)適于復(fù)雜環(huán)境,、封閉結(jié)構(gòu)、強(qiáng)電磁和強(qiáng)腐蝕等環(huán)境,。因此,,本文設(shè)計(jì)并建立了基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息微形變測量系統(tǒng)。具體方法是,,利用1×2單模光纖耦合器將激光源輸出光分為照明光和參考光,,同時(shí)通過短焦距和長焦距準(zhǔn)直透鏡分別對照明光和參考光進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,,使得參物光強(qiáng)度接近1:1,以獲得高信噪比的數(shù)字全息圖,。通過對發(fā)生了波長量級微形的鋼板進(jìn)行實(shí)際測量,,驗(yàn)證了本文建立系統(tǒng)的可行性和優(yōu)越性。

1 雙曝光數(shù)字全息干涉測量原理
    數(shù)字全息原理如圖1所示,。物參光在相機(jī)光敏面干涉記錄,,計(jì)算機(jī)模擬參考光,用菲涅爾-基爾霍夫衍射關(guān)系,,對物光波進(jìn)行數(shù)字重建,,XY平面為物平面,xy平面為全息記錄平面,,ηζ平面為再現(xiàn)平面,,d’為全息記錄距離。

a.jpg


    在滿足菲涅爾近似條件的情況下,,再現(xiàn)物光波表示為:
    b.jpg
    用CCD相機(jī)記錄干涉圖樣得到離散化的數(shù)字全息圖,,進(jìn)而再現(xiàn)物光場表示為:
    c.jpg
    式中:Im為取虛部,Re為取實(shí)部,。
    全息雙曝光干涉測量原理:基于物體狀態(tài)變化前后再現(xiàn)物光場的相位差值得到物體形變或位移量。首先,,物光場相位差表示為:
    d.jpg
    式中:φ1為原始物光場相位分布,;φ2為變化后物光場相位分布。需要指出的是,,由于計(jì)算機(jī)三角函數(shù)的計(jì)算特點(diǎn),,△φ的范圍為[-π,+π],,需要進(jìn)行解包裹處理,。然后,基于上述的物光場相位差,,得到物體的形變或位移量為:
    e.jpg

2 實(shí)驗(yàn)裝置與結(jié)果分析
    對于采用光纖波導(dǎo)的數(shù)字全息光路結(jié)構(gòu),,光纖類型的選擇是關(guān)鍵。多模光纖纖芯大,,傳輸光能量較大,,但由于其存在許多模式的光干涉,輻射斑點(diǎn)圖對外部條件十分敏感,,相位漂移難于補(bǔ)償,,導(dǎo)致條紋可見度降低和再現(xiàn)效率下降,因而不太適合做系統(tǒng)的導(dǎo)光介質(zhì),。單模光纖出射光強(qiáng)近似為高斯分布,,當(dāng)光纖孔徑與端面到被計(jì)算的平面的距離相比很小時(shí),,只用輻射的中心部分,目標(biāo)平面為均勻平面波,,因而用單模光纖可以不用空間濾波器,。
    本文設(shè)計(jì)的全息光路如圖2所示,其基本結(jié)構(gòu)為Mach-Zender干涉光路,。光源是功率為50 mW,、波長為532 nm的倍頻Nd:YAG固體激光器(Laser)。其輸出光束通過1個(gè)1×2基模光纖耦合器分為物體照明光和參考光,。由于單模光纖芯徑為5/μm,,為了避免激光耦合進(jìn)光纖的效率不高,選用加拿大OZoptics公司生產(chǎn)的插座式非接觸型激光光纖耦合器,,耦合效率可達(dá)60%,。進(jìn)而,為了確保在生產(chǎn)全息圖時(shí),,物光與參考光的強(qiáng)度比約為1:1,,即為了獲得高信噪比的數(shù)字全息圖,作為照明光的光纖出射光采用焦距為125 mm(L4)的準(zhǔn)直透鏡進(jìn)行擴(kuò)束,,而作為參考光的光纖輸出光采用焦距為250 mm(L2)的準(zhǔn)直透鏡進(jìn)行擴(kuò)束,。照明光照射物體,其反射光攜帶物體信息稱為物光(O),,然后和參考光(R)經(jīng)非偏振棱鏡合光后,,以一小角度在記錄面上相干疊加得到離軸全息圖。用于記錄全息圖的相機(jī)像素陣列為1 024×1 024,,大小為6.7μm×6.7 μm的CMOS相機(jī),。實(shí)驗(yàn)中通過計(jì)算機(jī)控制相機(jī),實(shí)現(xiàn)全息圖的數(shù)字化記錄與存儲(chǔ),。實(shí)驗(yàn)中的測量物體為四周固定鋼板,,如圖3所示。鋼板的尺寸為60 mm×60 mm,、厚度為1 mm,。通過高精度螺紋副擠壓鋼板施加壓力,使鋼板發(fā)生波長量級的微小形變,。鋼板面距離CMOS的距離,,即全息記錄距離為27 cm。

f.jpg

 

g.jpg


    在全息再現(xiàn)計(jì)算中,,首先采用Tukey窗對全息圖進(jìn)行切趾處理,,以減小邊緣衍射引起的光場起伏。然后,,采用空頻域?yàn)V波方法去除零級項(xiàng)和共軛像對原始像的影響,,即對切趾后的全息圖進(jìn)行傅里葉變換得到其頻譜,,進(jìn)而選取原始像對應(yīng)的頻譜分量,最后通過逆傅里葉變換得到僅包含原始像信息的全息圖,。接著,,采用菲涅爾再現(xiàn)算法得到物光場的復(fù)振幅分布,即反映物體形貌的相位分布,。
    圖4給出了實(shí)驗(yàn)結(jié)果,。其中,圖4(a)和圖4(d)為鋼板形變量的包裹相位圖,,圖4(a)為較小形變時(shí)包裹相位圖,,圖4(d)為較大形變時(shí)包裹相位圖。從圖可以看出,,實(shí)驗(yàn)得到的相位差圖條紋清晰,、信噪比高,并且包裹圖像條紋與形變物面的形變形狀,、形變位置,、形變大小與實(shí)際相符,說明本文設(shè)計(jì)的基于光波導(dǎo)的光路結(jié)構(gòu)完全可行,。圖4(b)和圖4(e)分別是進(jìn)行相位解包裹后的相位圖,,圖4(c)和圖4(f)分別為圖4(a)和圖4(d)橫向中心線處對應(yīng)的解包裹相位值。需要指出的是,,針對激光數(shù)字全息得到的包裹相位圖,,枝切法解包裹得到的相位形變量精度最高,最小梯度加權(quán)最小二乘法的形變形貌恢復(fù)效果最好,,因此實(shí)驗(yàn)中采用枝切法相位解包裹,然后經(jīng)高斯低通濾波,,得到較精確的形變量值,。

h.jpg

i.jpg


    表1給出了實(shí)驗(yàn)測量形變相位差結(jié)果與傳統(tǒng)數(shù)條紋法結(jié)果進(jìn)行的比較,實(shí)驗(yàn)得到的解包裹相位差值恰好落在真實(shí)相位差值范圍之內(nèi),。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,,本文提出的基于光纖導(dǎo)光的激光數(shù)字全息微形變測量系統(tǒng)能夠得到高信噪比的包裹相位差圖,即高精度的測量結(jié)果,,并且系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單,、緊湊、穩(wěn)定性好,。

3 結(jié)論
    本文設(shè)計(jì)并搭建了基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息干涉測量系統(tǒng),,采用1×2單模光纖耦合器實(shí)現(xiàn)分光產(chǎn)生照明光和參考光,并在照明光路和參考光路中分別采用短焦距和長焦距的準(zhǔn)直透鏡進(jìn)行光束擴(kuò)束,,使得物參光在記錄面上的強(qiáng)度比接近1:1,,從而獲得高信噪比的數(shù)字全息圖,。
    采用基于數(shù)字全息的雙曝光法對波長量級微形變鋼板進(jìn)行形變測量,通過數(shù)字全息記錄,、再現(xiàn)和形變包裹相位差圖解包裹,,得到形變相位差值。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,,基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息干涉測量系統(tǒng)能夠獲得高信噪比的相位差圖,,進(jìn)而得到高精度的物體微小形變量。因此,,本文建立的基于光纖導(dǎo)光的數(shù)字全息干涉測量系統(tǒng)不僅體積小,、重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊,、穩(wěn)定性好,,而且測量過程簡單且精度高。

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),,未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載,。