摘 要: 介紹電荷耦合器件CCD,,及其在低照度" title="低照度">低照度條件下的噪聲影響機制,,并從圖像預處理的角度分析噪聲消除的可能性,最后通過現(xiàn)場可編程器件FPGA從硬件上實現(xiàn)低照度條件下CCD圖像采集的實時噪聲消除預處理,。
關(guān)鍵詞:低照度圖像 實時噪聲處理 電荷耦合器件(CCD) 可編程器件(FPGA)
八十年代后期,,CCD器件進入實用階段,,得到廣泛的應(yīng)用。但直接用在低照度下的監(jiān)測和識別時,,信噪比急劇下降,。在軍事和天文觀測中可采用專用的像增強器,但在普通的應(yīng)用中,,為降低成本一般通過計算機進行圖像處理提高信噪比,。本文提供一種折衷的方案,通過分析CCD的特點,,采用硬件的方法實現(xiàn)圖像增強,,為計算機后端減少了大量復雜的運算,為整個系統(tǒng)的實時性創(chuàng)造了條件,。
1 CCD 的原理
CCD 的圖像捕捉過程分為三個子過程,,即:光電轉(zhuǎn)換" title="光電轉(zhuǎn)換">光電轉(zhuǎn)換和儲存,電荷轉(zhuǎn)移" title="電荷轉(zhuǎn)移">電荷轉(zhuǎn)移,,電荷讀出,。
CCD器件是有許多光敏像元組成的,每個像元可看成是一個兩極加有反向偏壓的光敏二極管" title="光敏二極管">光敏二極管,。當一個光子入射到光敏二極管的耗盡層時,,如果其能量hv大于半導體的禁帶Eg,半導體的價電子將越遷到導帶形成光生電子-空穴對,。由于空間電荷區(qū)對光生電子是一個低勢能的勢阱,,光生電子將被收集在勢阱中,這樣就完成了一次光電轉(zhuǎn)換和儲存,。
六十年代末,,貝爾實驗室的研究人員發(fā)現(xiàn),電荷通過半導體勢阱會發(fā)生轉(zhuǎn)移現(xiàn)象,。這樣,如果把一系列的光敏二極管排列起來,,通過電荷在勢阱中的轉(zhuǎn)移,,就有可能在一定的時序驅(qū)動下讀出儲存在每個光敏二極管勢阱的光電信息。圖1是典型的三相CCD的電荷轉(zhuǎn)移過程,。
雖然用同一組CCD光敏二極管就可以完成攝像器件的光電轉(zhuǎn)換和轉(zhuǎn)移,,但是,由于復雜的控制光點極不利于提高CCD器件的量子效率,。同時在CCD電荷轉(zhuǎn)移時各個光敏單元還正在進行光電轉(zhuǎn)換,,這將使輸出信號產(chǎn)生拖影。所以,,實際的CCD器件的光敏單元和轉(zhuǎn)移單元是分開的,,通過一定的時序控制可以實現(xiàn)光敏單元向轉(zhuǎn)移單元的整體轉(zhuǎn)移,,然后再由轉(zhuǎn)移單元串行地往外部輸出。
CCD的信號讀出通常采用選通電荷積分器結(jié)構(gòu),,圖2是三相CCD的電荷讀出原理:其中Cs是反向偏置二極管D的結(jié)電容,。當待讀出電荷到達ΦOG勢阱時,T1在短脈沖的作用下快速導通使Cs充電到高電位,。接著下一相時鐘到達,,待讀出電荷轉(zhuǎn)移到ΦOG勢阱,待讀出電荷將對Cs充電使其電壓下降,,電壓的下降幅度與待讀出電荷量成正比,,最后由T2驅(qū)動輸出。
2 CCD 的噪聲分析
在低照度圖像實時噪聲處理采集卡研制過程中,,我們所遇到的噪聲主要有以下幾種,。
暗電流" title="暗電流">暗電流噪聲:復合——產(chǎn)生中心非均勻分布,特別是某些單元位置上缺陷密集形成暗電流峰,。由于信號的讀出路徑各異,,這些暗電流峰對各個電荷包的電荷貢獻也不等,因而形成背景的很大起伏,。另外,,耗盡層熱激發(fā)(符合泊松分布)對背景起伏也有貢獻。
因暗電流大小與位置基本固定,,故可用電子學方法消除,。但當器件工作在長時間積分的弱信號觀測時,暗電流的影響將是主要因素,。在這種情況下,,器件應(yīng)工作于人工制冷狀態(tài)(在液氮溫度下,暗電流可比常溫下減小三個數(shù)量級),。
光響應(yīng)非均勻性:當CCD的各個像元在均勻光源照射下,、CCD器件具有光響應(yīng)非均勻性(PRNU)、它主要與器件的制造工藝有關(guān),,由于近紅外光在硅中的穿透能力較強,,PRNU還受襯底材料的非均勻性影響。PRNU沒有一定的規(guī)律,,因器件而異,,具有很大隨機性。因此,,對于弱信號的應(yīng)用,,應(yīng)進行實際測量,然后加以補償以達到均勻響應(yīng),。
散粒噪聲:光注入光敏區(qū)產(chǎn)生信號電荷的過程可看作隨機過程,,單位時間產(chǎn)生的光生電荷數(shù)目在平均值上做微小波動,,即形成散粒噪聲。散粒噪聲與頻率無關(guān),,在所有頻率范圍內(nèi)有均勻的功率分布(白噪聲特性),。散粒噪聲在低照度,低反差條件應(yīng)用時,,當其它噪聲用各種方法抑制后,,散粒噪聲成為主要噪聲,決定了一個器件的極限噪聲水平,。
雜波噪聲:主要來源于傳輸通道及各種器件,,多為無規(guī)則隨機信號,頻譜較寬,,幅度不等,。圖像信號相鄰像素、相鄰行,、相鄰幀具有較大相關(guān)性,,而雜波噪聲具有隨機性,據(jù)此可設(shè)計出積分平均器以改善雜波噪聲,。
實驗表明相鄰像素或相鄰行的積分平均器效果并不理想,,因為它較大地影響了水平和垂直分辨率,相鄰幀積分平均器對圖像分辨率影響不大,,特別對靜態(tài)圖像它具有極佳的雜波抑制效果,。在實現(xiàn)時一般還需對K值自適應(yīng)控制(幀間內(nèi)容變化較大時自動減小K值,反之增大),,以取得更好的效果,。積分平均器的數(shù)字電路實現(xiàn)原理及性能見圖3。
3 CCD 實時噪聲處理的硬件設(shè)計
對低照度條件下所遇到的主要噪聲特點分析,,除了散粒噪聲決定了最終噪聲水平,,必須通過降低工作溫度以提高信噪比外,其它噪聲可以通過適當?shù)乃惴右愿纳?。在實現(xiàn)時我們設(shè)計的處理流程如下:控制CCD短時間拍攝一幀圖像,,減去事先測量獲得的暗電流圖像,然后根據(jù)事先測量的光響應(yīng)非均勻性進行修正,,最后通過幀積分平均器消除散粒噪聲和雜波噪聲的影響,。
在實現(xiàn)時,,我們采用了具有很高邏輯密度和性價比的EPF10K30嵌入所有的算法和控制邏輯,,加上高速SRAM 和高速A/D變換器構(gòu)成了整個系統(tǒng)。其中SRAM分為三個可獨立的部分:存儲背景存儲器,、PRNU參數(shù)存儲器和幀存儲器,。當A/D完成一次轉(zhuǎn)換時,,控制邏輯同時從三個存儲器獲得數(shù)據(jù),通過處理后寫回幀存儲器,,由于三個存儲器可同時訪問,,因此極大地提高了系統(tǒng)的并行處理效率。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖4,。
實驗表明,,肉眼很難辨別的低照度圖像通過這種方法處理后能夠?qū)崟r得到易于辨別的圖像,并能被后續(xù)的模式識別程序很好地識別,。
參考文獻
1 TOSHIBA CCD AREA IMAGE SENSEOR.TOSHIBA 1997,;(9)DATASHEET
2 FLEX 10K Embedded Programmable Logic Family.ALTERA January 1998;(3)
3 徐繼麟,、周先敏編.特種固態(tài)模擬器件原理及應(yīng)用.北京:電子工業(yè)出版社,,1995;4
4 (美)豪斯(M.J.Howes).電荷耦合器件和系統(tǒng).北京:國防工業(yè)出版社